特許

J-GLOBAL ID：200903025648793764

はんだ印刷検査装置

発明者： 在間 尚洋
出願人/特許権者： シーケーディ株式会社
代理人 (1件)： 川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-086018
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286427
出願日： 2001年03月23日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】装置の複雑化を招くことなく正確な基準高さを得、比較的短い処理時間で精度の高い検査を行うことのできるはんだ印刷検査装置を提供する。【解決手段】はんだ印刷検査装置1は、プリント基板Kに光パターンを照射するための照明装置3と、CCDカメラ4とを備え、これらは三次元計測装置制御部7にて制御される。三次元計測装置制御部7は画像処理手段11を構成し、画像処理手段11は、基準高さ設定部8と、はんだ印刷検査部9とを備える。基準高さ設定部8では、検査領域につき、画素単位毎に三次元計測によって計測された絶対的な高さデータ群に基づき、所定以上の高さデータが所定方向に積算され、該積算値が積算の対象となった単位数で除算され、該除算値が積算方向と直交方向に求められて連結成分が得られ、該連結成分が微分され、そのときの極大値及び極小値を示す位置に対応する高さに基づいて基準高さが設定される。

請求項（抜粋）：

少なくとも基板上に設けられたはんだの高さを、三次元計測によって求めることに基づいて、はんだの印刷状態を検査するはんだ印刷検査装置であって、少なくとも所定部位につき、前記三次元計測によって得られた高さデータが、設定された基準高さに対しどの程度の高さを有しているかに基づいて、前記はんだの高さを求めるよう構成するとともに、前記基準高さを、前記三次元計測を行うことで得られた高さ情報に基づいて設定するようにしたことを特徴とするはんだ印刷検査装置。

IPC (5件)：

G01B 11/06 ,  B41F 15/08 303 ,  B41F 15/14 ,  G01B 21/02 ,  H05K 3/34 512

FI (5件)：

G01B 11/06 H ,  B41F 15/08 303 E ,  B41F 15/14 C ,  G01B 21/02 A ,  H05K 3/34 512 B

Fターム (52件)：

2C035AA06 ,  2C035FA27 ,  2C035FB36 ,  2C035FD00 ,  2C035FF00 ,  2F065AA04 ,  2F065AA24 ,  2F065AA52 ,  2F065AA59 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF26 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK03 ,  2F065LL03 ,  2F065LL04 ,  2F065LL30 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR02 ,  2F065RR03 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  2F069AA04 ,  2F069AA42 ,  2F069AA96 ,  2F069BB14 ,  2F069BB40 ,  2F069DD15 ,  2F069DD19 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG62 ,  2F069HH30 ,  2F069NN05 ,  2F069NN06 ,  2F069NN09 ,  2F069NN10 ,  2F069NN26 ,  2F069PP02 ,  2F069PP06 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 高さ測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-048462   出願人：ジューキ株式会社
• はんだ付け状態検査装置とはんだ付け状態検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-225422   出願人：松下電器産業株式会社