特許

J-GLOBAL ID：200903025768757052

表面欠陥検出方法および装置

発明者： 上野 直人 ,  高田 英紀
出願人/特許権者： JFEスチール株式会社
代理人 (1件)： 中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-370450
公開番号（公開出願番号）：特開2006-177746
出願日： 2004年12月22日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：

【課題】押し込み深さの浅い疵の欠陥検出を、安価に確実に行える金属帯の表面欠陥検出方法および装置を提供することを目的とする。【解決手段】走行中の金属帯1の表面に、投光器2により光を照射して、その金属帯表面からの反射光のうち、正反射する正反射光を正反射光受光器3で、乱反射する乱反射光を乱反射光受光器4で、それぞれ受光する。所定の非定常速度となるタイミングを捕えて、乱反射光受光器4を可動させるようにして、正反射光受光器3および乱反射光受光器4からの画像信号を用いて、画像処理部7で疵の検出および疵種判定を行い、その結果を表示部8に表示する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

走行中の金属帯の表面に光を照射し、その金属帯表面からの正反射光および乱反射光を受光して、金属帯の表面欠陥を検出するようにした金属帯の表面欠陥検出方法であって、 前記乱反射光の受光にあたっては、所定の受光角度範囲を走査できるように、乱反射光受光器の受光角度を変化させることを特徴とする、金属帯の表面欠陥検出方法。

IPC (1件)：

G01N 21/892

FI (1件)：

G01N21/892 B

Fターム (6件)：

2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G051CD01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表面検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-045337   出願人：日本鋼管株式会社