特許
J-GLOBAL ID：200903025847052927
濁度の測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
谷 義一 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-058501
公開番号（公開出願番号）：特開平10-311784
出願日： 1998年03月10日
公開日（公表日）： 1998年11月24日
要約：
【要約】【課題】 従来の濁度計では困難であった低濁度における濁度測定を実現すること。【解決手段】 試料水に光ビームを照射し、試料水中の微粒子によって散乱される光を光電変換素子で光電変換し、前記光ビーム中を前記微粒子が通過する度に前記光電変換によって得られる単位時間内の各パルス信号を入力信号7として入力し、ピークホールド回路13でその波高値を測定し、この測定値に基づいて、粒径区分ごとの試料水中の微粒子の個数濃度を求め、該各個数濃度に対して粒径区分ごとに個別の係数を乗じて試料水の濁度を求める。
請求項（抜粋）：
試料水に光ビームを照射し、試料水中の微粒子によって散乱される光を光電変換手段で光電変換し、前記光ビーム中を前記微粒子が通過する度に前記光電変換によって得られるパルス信号に基づいて、粒径区分ごとの試料水中の微粒子の個数濃度を求め、該各個数濃度に対して粒径区分ごとに個別の係数を乗じて試料水の濁度を求めることを特徴とする濁度の測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 15/06 C
, G01N 15/06 E
, G01N 21/53 Z
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (3件)
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