水分測定方法および水分測定装置および電気機器製造方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高田幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-314794
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146834
出願日： 1998年11月05日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】測定部材の水分率を高精度で簡単に測定することができる測定方法および小型の測定装置を得る。【解決手段】波長が異なる2種の単色光を照射用導光体で導いて測定部材の表面に照射し、この測定部材表面からの反射光を受光用導光体を用いて光量測定部に導いて反射光量を測定し、演算部において各波長における反射吸光度(Aλ)を求め、ある波長の反射吸光度と波長1350nm以下の反射吸光度との2波長間の反射吸光度差(ΔAλ)あるいは2波長間の反射吸光度比(Aλ’)を演算し、更に、予め記憶しておいた反射吸光度差あるいは反射吸光度比と水分率との関係から、測定部材の水分率を算出する水分測定方法および装置。

請求項（抜粋）：

反射吸光度が水分に大きく影響される波長と水分の影響が少ない波長を被測定部材の表面に照射してその反射量を測定することにより各波長における反射吸光度を求め、この反射吸光度に基づいて被測定部材の水分率を測定する水分測定方法において、波長が異なる少なくとも2種の単色光を照射用導光体で導いて測定部材の表面に照射し、この測定部材表面からの反射光を受光用導光体を用いて光量測定部に導いて反射光量を測定し、演算部において各波長における反射吸光度(Aλ)を(数1)式を用いて求め、ある波長の反射吸光度と波長1350nm以下の反射吸光度との2波長間の反射吸光度差(ΔAλ)あるいは2波長間の反射吸光度比(Aλ’)を(数2)式または(数3)式を用いて演算し、更に、予め記憶しておいた反射吸光度差あるいは反射吸光度比と水分率との関係を比較演算することにより、測定部材の水分率を算出する水分測定方法。Aλ= -log(Ι / Ι0) (数1)ΔAλ=Aλ1-Aλ2 (ただし、λ1>λ2) (数2)Aλ’=Aλ1/Aλ2 (ただし、λ1>λ2) (数3)ここで、Ι0:標準白板の反射光強度 Ι:被測定物の反射光強度λ2:1350nm以下

Fターム (19件)：

2G059AA01 , 2G059BB10 , 2G059CC09 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF08 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059JJ12 , 2G059JJ13 , 2G059JJ17 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2G059MM05 , 2G059MM10 , 2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (5件)

電気機器の劣化診断方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-163712 出願人：株式会社日立製作所
特開平1-129735
含水分測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-312329 出願人：株式会社リコー

全件表示

前のページに戻る