特許
J-GLOBAL ID：200903026255631912
光パルスを用いた三次元形状測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院計量研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-040452
公開番号（公開出願番号）：特開平7-229725
出願日： 1994年02月15日
公開日（公表日）： 1995年08月29日
要約：
【要約】【目的】 形状が変化する物体や運動している物体の三次元形状を高精度に測定できると共に、反射パルスの形状を変化させるような物体の三次元形状測定も行い得る光パルスを用いた三次元形状測定装置を提供する。【構成】 パルス光源1より発された光パルスをチャープ導入装置2でチャープしたチャープ光パルスをビームエクスパンダ4で拡張して対象物体5に照射し、該対象物体5の表面で反射した反射光をシャッタ6の開閉により切り取り、カラー二次元検出器7で画像検出することにより、色付き等高線マップの二次元画像として取得する。
請求項（抜粋）：
色が規則的に経時変化するチャープ光パルスを生成するチャープ光パルス生成手段と、該チャープ光生成手段からのチャープ光を被測定物を介して取得し、取得した測定基準時における反射光の二次元情報を光色に基づいて三次元化する三次元情報取得手段と、を備えることを特徴とする光パルスを用いた三次元形状測定装置。
IPC (2件)：
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