特許

J-GLOBAL ID：200903026359960152

静電破壊試験装置

発明者： 山下 由美子 ,  鈴木 功一
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-252516
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081468
出願日： 1998年09月07日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：

【要約】【課題】 パソコン機能拡張用プリント基板,ICカードおよびゲーム用ICカセット等が混在し、端子等の形状が一様でない場合においても、容易に静電破壊試験を実施する。【解決手段】 所定の直流電圧を発生しかつ負極がグランドと接続された直流電源Vと、この直流電源Vの正極に接続された抵抗R1とを有した本体装置3を備える。そして、配線基板4の端子に接触して充電および放電を行うための金属プローブ1と、この金属プローブ1と抵抗R1との間に接続された第1のスイッチ手段(SW1)と、金属プローブ1とグランドとの間に接続された第2のスイッチ手段(SW2)と、第1のスイッチ手段(SW1)および第2のスイッチ手段(SW2)の接続を切り替える制御手段2aと、制御手段2aの駆動を制御するスイッチ手段(ボタンスイッチBSW1,BSW2)とを有したペンシル型のプローブユニット2を備える。そして、本体装置3とプローブユニット2とを接続するケーブル3aとを備える。

請求項（抜粋）：

複数のICチップが実装されかつこのICチップと電気的に接続された複数の端子を有した配線基板に対し、前記端子を介して充電および放電を行い、前記ICチップの静電破壊試験を行う装置において、所定の直流電圧を発生しかつ負極がグランドと接続された直流電源と、この直流電源の正極に接続された抵抗とを有した本体装置と、前記配線基板の端子に接触して充電および放電を行うための金属プローブと、この金属プローブと前記抵抗との間に接続された第1のスイッチ手段と、前記金属プローブと前記グランドとの間に接続された第2のスイッチ手段と、前記第1のスイッチ手段および前記第2のスイッチ手段の接続を切り替える制御手段と、前記制御手段の駆動を制御するスイッチ手段とを有したペンシル型のプローブユニットと、前記本体装置と前記プローブユニットとを接続するケーブルとを備えたことを特徴とする静電破壊試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/30 ,  G01R 29/24 ,  G01R 31/00

FI (3件)：

G01R 31/30 ,  G01R 29/24 J ,  G01R 31/00

Fターム (29件)：

2G032AA01 ,  2G032AB03 ,  2G032AB05 ,  2G032AB07 ,  2G032AB08 ,  2G032AB11 ,  2G032AC03 ,  2G032AE04 ,  2G032AE07 ,  2G032AE09 ,  2G032AF01 ,  2G032AF03 ,  2G032AG09 ,  2G032AJ03 ,  2G032AJ05 ,  2G032AK01 ,  2G032AK02 ,  2G032AK03 ,  2G032AK04 ,  2G032AL03 ,  2G036AA01 ,  2G036AA02 ,  2G036AA12 ,  2G036AA24 ,  2G036AA25 ,  2G036BA04 ,  2G036BA38 ,  2G036BB12 ,  2G036CA08

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-312479
  
• 半導体デバイスの静電破壊試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-072826   出願人：東京電子交易株式会社
• 特開昭59-231458