特許
J-GLOBAL ID：200903026386113321
光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置
出願人/特許権者：
キヤノン株式会社
キヤノン株式会社 について
代理人 (2件)： 西山 恵三 , 内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-066055
公開番号（公開出願番号）：特開2008-298767
出願日： 2008年03月14日
公開日（公表日）： 2008年12月11日
要約：
【課題】 被検査物の画像情報どうしの光軸方向に関する位置関係を関連付けることができる光干渉断層法を用いた画像形成方法を提供する。【解決手段】 まず、光軸方向に関する第1の焦点4301の位置における被検査物の第1の画像情報4302を取得する。 次に、光軸方向に関して、第1の焦点4301とは異なる第2の焦点4303の位置まで、ダイナミックフォーカシングにより焦点位置を変える。 また、第2の焦点4303の位置における被検査物の第2の画像情報4304を取得する。 ここで、被検査物の断層画像情報4305であって、且つ第1或いは第2の焦点の少なくとも一方の焦点の位置における該被検査物の断層像を含む第3の画像情報をフーリエドメイン法により取得する。 そして、第3の画像情報を用いて、第1及び第2の画像情報との光軸方向に関する位置関係を関連付けて、被検査物の断層像または三次元像を形成する。【選択図】 図43
請求項（抜粋）：
光干渉断層法を用いた画像形成方法であって、
被検査物に光を入射する方向である光軸方向に関して、第1の焦点の位置における該被検査物の第1の画像情報を取得する第1の画像情報取得工程と、
前記光軸方向に関して、前記第1の焦点の位置から該第1の焦点とは異なる第2の焦点の位置まで、ダイナミックフォーカシングにより焦点の位置を変える工程と、
前記第2の焦点の位置における前記被検査物の第2の画像情報を取得する第2の画像情報取得工程と、
前記被検査物の断層画像情報であって、且つ前記第1の焦点あるいは前記第2の焦点の少なくとも一方の焦点の位置における該被検査物の断層像を含む第3の画像情報をフーリエドメイン法により取得する工程とを含み、
前記第3の画像情報を用いて、前記第1の画像情報と前記第2の画像情報との前記光軸方向に関する位置関係を関連付けて、前記被検査物の断層像または三次元像を形成することを特徴とする画像形成方法。
IPC (3件)：
FI (3件)：
Fターム (22件)：
2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE05
, 2G059EE09
, 2G059EE11
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ19
, 2G059JJ20
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059MM01
引用特許：
出願人引用 (5件)
-
米国特許明細書第5,321,501号
-
散乱光の三次元分布を記録する方法及び装置
公報種別：公表公報 出願番号：特願2000-549904 出願人：レーザー・ディアグノスティック・テクノロジーズ・インコーポレイテッド -
光断層画像化方法
公報種別：公開公報 出願番号：特願2005-288658 出願人：富士フイルム株式会社
全件表示
審査官引用 (4件)
Copyright (c) 2009 Japan Science and Technology Agency. All Rights Reserved