特許

J-GLOBAL ID：200903026471324404

赤外反射スペクトルの測定方法及びその装置

発明者： 久保田 純
出願人/特許権者： 科学技術振興事業団
代理人 (1件)： 清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-248484
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083737
出願日： 1997年09月12日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】 気相による赤外吸収から表面種による吸収を分離するために、偏光子をフーリエ変換赤外分光器と連動させた回転偏光子を用いた赤外反射スペクトルの測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 赤外反射スペクトルの測定にあたり、偏光子をフーリェ変換赤外分光干渉計7の走査に同期させて回転させ、この回転に同期してp偏光とs偏光のスペクトルを交互に積算し、その比をとり、気相分子の吸収バンドを相殺し、試料としての金属単結晶12表面に吸着している表面種による赤外反射吸収スペクトルを得る。

請求項（抜粋）：

(a)偏光子をフーリエ変換赤外分光干渉計の走査に同期させて回転させ、(b)該回転に同期してp偏光とs偏光のスペクトルを交互に積算し、その比をとり、(c)気相分子の吸収バンドを相殺し、金属表面に吸着している表面種による赤外反射吸収スペクトルを得ることを特徴とする赤外反射スペクトルの測定方法。

IPC (4件)：

G01N 21/35 ,  G01J 3/42 ,  G01J 3/45 ,  G01N 21/21

FI (4件)：

G01N 21/35 Z ,  G01J 3/42 U ,  G01J 3/45 ,  G01N 21/21 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-217240
  
• 偏光変調赤外分光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-209154   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭60-117119