特許
J-GLOBAL ID:200903026631019590

シリコン・オン・インシュレータ(SOI)の静電気放電防止ダイオード構造体及びその形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 合田 潔 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-057668
公開番号(公開出願番号):特開平7-015016
出願日: 1994年03月28日
公開日(公表日): 1995年01月17日
要約:
【要約】【目的】 シリコン・オン・インシュレータ(SOI)基板に形成されたトランジスタの静電気放電を防止する。【構成】 SOI基板18に伸びるトレンチ領域にダイオード18/24が形成される。通常の処理の間に、基板の型とは反対の型のドーパントがトレンチに注入される。トレンチの側壁の勾配は、側壁のマスキングを防ぎ、良好なステップ・カバレージを得るために緩やかにする必要がある。
請求項(抜粋):
シリコン・オン・インシュレータ回路に用いられる静電気放電防止ダイオード構造体であって、中にトランジスタを形成するように準備されたシリコン・オン・インシュレータ基板と、上記シリコン・オン・インシュレータ基板に形成されており、上記基板と上記回路の間に静電気放電電流経路を与えるダイオードと、を含む静電気放電防止ダイオード構造体。
IPC (2件):
H01L 29/786 ,  H01L 27/12
引用特許:
審査官引用 (2件)

前のページに戻る