特許
J-GLOBAL ID:200903026701430136
試料解析方法及び試料解析プログラム
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
平木 祐輔
, 石井 貞次
, 藤田 節
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-136968
公開番号(公開出願番号):特開2008-241721
出願日: 2008年05月26日
公開日(公表日): 2008年10月09日
要約:
【課題】試料に含まれる成分を分析するに際して、優れた分析能を達成することができる試料解析方法及び試料解析プログラムを提供する。【解決手段】本発明に係る試料解析方法は、試料の分析の結果として得られた多次元データにおける、少なくとも1次元のパラメータを補正する工程aと、上記工程aにより得られる補正後のデータを複数の試料について比較する工程bとを含む。【選択図】なし
請求項(抜粋):
複数の試料についてクロマトグラフィー質量分析の結果として得られる、質量/電荷比を示すパラメータと、イオン強度を示すパラメータと、保持時間を示すパラメータとからなる3次元データにおける、質量/電荷比を示すパラメータ及びイオン強度を示すパラメータに関するプロファイルを参照プロファイルとし、複数の試料間で複数の参照プロファイルに関する配置類似性の尺度となる評価関数を用いて、当該評価関数の値を最適化する最適解探索問題として各プロファイルの配置を求めることで、保持時間を示すパラメータを補正する工程aと、
上記工程aにより得られる補正後の3次元データを、複数の試料について比較する工程bとを含む試料解析方法。
IPC (4件):
G01N 27/62
, G01N 30/86
, G01N 30/72
, G01N 30/88
FI (5件):
G01N27/62 Y
, G01N30/86 G
, G01N30/72 E
, G01N30/88 J
, G01N30/86 D
Fターム (13件):
2G041CA01
, 2G041DA05
, 2G041EA04
, 2G041EA12
, 2G041FA12
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041HA01
, 2G041JA02
, 2G041KA01
, 2G041LA07
, 2G041LA09
, 2G041MA06
引用特許:
引用文献:
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