構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-072068
公開番号（公開出願番号）：特開2009-092644
出願日： 2008年03月19日
公開日（公表日）： 2009年04月30日
要約：

【課題】構造体の欠陥の有無を、構造体を破壊することなく簡便且つ正確に検知することができる欠陥検知方法及びシステムを提供する。【解決手段】本発明に係る欠陥検知システム10は、検知対象である構造体2の表面に形成した発光膜1の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。発光膜1は、発光粒子1aを含有している。欠陥が在る構造体2に歪みの変化が生じると、欠陥周辺に応力集中が起きて歪み、該表面の発光膜も歪む。その歪みエネルギーが発光粒子に伝播して発光するので、目視できない欠陥を、発光という形で構造体外部に示すことができる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

構造体の表面側からは視認できない該構造体の内部及び/または裏面にある欠陥を、該表面側から検知する方法であって、歪みエネルギーを受けて発光するとともに、該歪みエネルギー密度の変化の大きさに比例した発光強度で発光する発光粒子を含有した発光膜を、上記構造体の上記表面の少なくとも一部分に形成し、上記構造体に歪みの変化を生じさせた状態で、上記発光膜の光に基づいて、上記裏面及び上記内部に在る欠陥を検知することを特徴とする欠陥検知方法。

IPC (2件)：

G01N 21/70 , G01N 3/30

FI (2件)：

G01N21/70 , G01N3/30 N

Fターム (32件)：

2G043AA03 , 2G043CA05 , 2G043EA06 , 2G043EA10 , 2G043FA01 , 2G043FA03 , 2G043GA07 , 2G043GB08 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043KA02 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA03 , 2G043LA05 , 2G043MA01 , 2G043NA05 , 2G051AA90 , 2G051AB02 , 2G051CA04 , 2G051EA12 , 2G051EA16 , 2G051FA01 , 2G061AA13 , 2G061AB04 , 2G061BA20 , 2G061CB04 , 2G061CB20 , 2G061DA20 , 2G061EA04 , 2G061EB07 , 2G061EC05

引用特許：

出願人引用 (2件)

損傷センシングシート
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-311782 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
振動・温度検出用一体型センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-030799 出願人：東洋紡績株式会社, 株式会社富士セラミックス

審査官引用 (6件)

歪検出システム及び歪検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-172191 出願人：矢崎総業株式会社
構造物の欠陥検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-362589 出願人：JFEスチール株式会社, 国立大学法人大阪大学
応力・歪みの解析方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-011844 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所

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