特許
J-GLOBAL ID:200903002494324880

応力・歪みの解析方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-011844
公開番号(公開出願番号):特開2007-192689
出願日: 2006年01月20日
公開日(公表日): 2007年08月02日
要約:
【課題】光弾性測定法で測定できる物理量は主応力差(σ1-σ2)と主応力方向であり、それぞれの主応力成分値はわからないという原理的な限界を有する。【解決手段】物体の応力状態を測定するに際して、光弾性測定法だけでなく、応力発光物質を適用した応力測定(応力発光測定)を併用することによって、光弾性測定の原理的な限界を超えて、例えば主応力の成分値であるσ1とσ2をそれぞれ知ることを実現し、詳細な応力測定を可能とする。【選択図】なし
請求項(抜粋):
応力による物質の光複屈折を測定することにより被測定物体に作用する応力状態を測定し(光弾性測定)、 応力で発光する物質の光を測定することにより前記被測定物体に作用する応力状態を測定し(応力発光)、 前記両測定データを演算処理することにより所定の応力分布等の力学情報を得ることを特徴とする応力解析方法。
IPC (1件):
G01L 1/00
FI (2件):
G01L1/00 B ,  G01L1/00 G
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 力で発光する無機薄膜及びその製造法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-306499   出願人:工業技術院長
  • 発光骨材
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-332401   出願人:太平洋セメント株式会社, 独立行政法人産業技術総合研究所
審査官引用 (3件)

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