特許

J-GLOBAL ID：200903026957655747

走査型トンネル顕微鏡及び磁化検出方法

発明者： 北川 博紀 ,  児玉 宏喜
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 岡本 啓三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-095280
公開番号（公開出願番号）：特開平9-280810
出願日： 1996年04月17日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：

【要約】【課題】媒体表面の磁化状態を原子オーダの空間分解能で観察するのに適した走査型トンネル顕微鏡及び磁化検出方法に関し、任意の向きに向いている磁化の向き及び大きさを原子オーダで正確に検出する。【解決手段】右回り又は左回りの円偏光を適宜切り換えて照射する光照射手段と、円偏光が出射する点又は入射する点からみた立体角の張る稜線上に沿って円偏光を入射させる手段41と、円偏光を受けてスピン偏極電子を生成する探針21と、探針21から磁化検出媒体40に供給されるスピン偏極電子によるトンネル電流を検出する手段と、トンネル電流の大きさから磁化検出媒体40の磁化の垂直成分及び平面成分を検出して磁化の向きと大きさを得る手段とを有する。

請求項（抜粋）：

右回り又は左回りの円偏光を適宜切り換えて照射する光照射手段と、前記円偏光が出射する点又は入射する点からみた立体角の張る稜線上に沿って前記円偏光が入射する点に該円偏光を入射させる手段と、前記円偏光を受けてスピン偏極電子を生成する探針と、前記探針を磁化検出媒体に近づける手段と、前記探針から前記磁化検出媒体に供給されるスピン偏極電子によるトンネル電流を検出する手段と、前記トンネル電流の大きさから前記磁化検出媒体の磁化の垂直成分及び平面成分を検出して該磁化の向きと大きさを得る手段とを有することを特徴とする走査型トンネル顕微鏡。

IPC (6件)：

G01B 7/34 ,  G01N 37/00 ,  G01R 33/10 ,  G01R 33/12 ,  G11B 5/02 ,  G11B 9/00

FI (6件)：

G01B 7/34 Z ,  G01N 37/00 B ,  G01R 33/10 ,  G01R 33/12 Z ,  G11B 5/02 Z ,  G11B 9/00

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 走査トンネル顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-305134   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭62-139240
  
• 特開平2-199757