特許
J-GLOBAL ID：200903027089455449
コンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-296268
公開番号（公開出願番号）：特開2002-110485
出願日： 2000年09月28日
公開日（公表日）： 2002年04月12日
要約：
【要約】【課題】 検査回路の総合インピーダンスが大きいために100mΩ以下の低ESRコンデンサに対して十分な検査ができず、さらに印加電流を制御する回路がないために被検査試料の特性バラツキによって安定した検査ができないという課題を解決し、高速に制御された低ESRコンデンサを検査選別することができるコンデンサの検査装置およびこれを用いた検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 充電用回路と放電用回路を備えた検査回路部を同一面上に配置し、かつこの検査回路部の面と交差する方向に給電用コンデンサ2を複数個配置して並列に接続し、これらを一体に装着した構成にしたことにより、低ESRコンデンサに対して十分大きな電流と、十分に早い応答性を持つ電流ストレスをコンデンサの定格に応じた最適な条件で与えることが可能になる。
請求項（抜粋）：
被検査試料の端子に当接して検査を行う一対の測定端子間をその間に充電用スイッチ、給電用コンデンサ、抵抗を配置して接続した充電用回路と、この充電用回路の上記測定端子の一方と充電用スイッチ間ならびに給電用コンデンサと抵抗間をその間に放電用スイッチを配置して接続した放電用回路を備えた検査回路部を同一面上に配置し、かつ、この検査回路部の面と交差する方向に上記給電用コンデンサを複数個配置して並列に接続し、これらを一体に装着することにより構成された測定部と、この測定部内の給電用コンデンサに直流電流を供給する電源部からなるコンデンサの検査装置。
IPC (3件)：
H01G 13/00 361
, G01R 27/26
, G01R 31/00
H01G 13/00 361 Z
, G01R 27/26 T
, G01R 31/00
2G028AA01
, 2G028BB06
, 2G028CG11
, 2G028DH03
, 2G028FK01
, 2G028HN01
, 2G028MS00
, 2G036AA12
, 2G036AA13
, 2G036BB02
, 2G036CA09
, 2G036CA10
, 5E082MM32
, 5E082PP01
, 5E082PP02
, 5E082PP05
, 5E082PP08
