特許

J-GLOBAL ID：200903027313275168

動作モード設定回路

発明者： 早野 昌彦
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社
代理人 (1件)： 柿本 恭成
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-349430
公開番号（公開出願番号）：特開2006-162257
出願日： 2004年12月02日
公開日（公表日）： 2006年06月22日
要約：

【課題】 手動の評価治具を使用した場合でも、各種のテストモードを確実に設定することが可能な動作モード設定回路を提供する。【解決手段】 システムリセット信号SRSTで論理回路11をリセットし、テストリセット信号TRSTでFF17,18とカウンタ20をリセットした後、論理回路11をそのままにして、FF17,18とカウンタ20のリセットを解除する。テスト設定信号TSETを“H”と“L”に切り替える毎に、EOR19からカウンタ20に“H”のイネーブル信号が与えられ、内部クロックCKIに同期してカウント値CNがカウントアップされる。カウント値CNはデコーダ21でデコードされ、モード設定信号として論理回路11に与えられる。所定のカウント値CNをセットした後、システムリセット信号SRSTを解除すると、論理回路11はモード設定信号に応じた動作モードで動作を開始する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

複数の動作モードの中からモード設定信号で指定された動作モードで動作する論理回路と共に集積回路に組み込まれ、該論理回路に該モード設定信号を与える動作モード設定回路であって、 第1の外部端子から与えられるテストリセット信号によってリセットされ、第2の外部端子から与えられるテスト設定信号のパルスをカウントし、そのカウント値または該カウント値をデコードした信号を前記モード設定信号として出力するカウント手段を備えたことを特徴とする動作モード設定回路。

IPC (5件)：

G01R 31/28 ,  G06F 15/78 ,  H03K 21/40 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (5件)：

G01R31/28 V ,  G06F15/78 510G ,  G06F15/78 510K ,  H03K21/40 Z ,  H01L27/04 T

Fターム (16件)：

2G132AA00 ,  2G132AK07 ,  2G132AK08 ,  2G132AK15 ,  2G132AK18 ,  2G132AK22 ,  2G132AL09 ,  2G132AL32 ,  5B062DD10 ,  5B062GG07 ,  5B062JJ05 ,  5F038DF01 ,  5F038DT02 ,  5F038DT04 ,  5F038DT15 ,  5F038EZ20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• テストモード設定回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-121177   出願人：東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝

審査官引用 (4件)

• 特開平3-015776
  
• バーンインテスト判定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-109381   出願人：松下電器産業株式会社
• 半導体集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-271973   出願人：富士通株式会社
• テストモード設定回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-121177   出願人：東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝