特許
J-GLOBAL ID:200903027355464220

半導体素子及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 敬四郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-351051
公開番号(公開出願番号):特開2001-168392
出願日: 1999年12月10日
公開日(公表日): 2001年06月22日
要約:
【要約】【課題】 p型ZnO系単結晶層に対して良好なオーミック電極を有する半導体素子を形成する。【解決手段】 p型ZnO系単結晶層107と、それに接触し、Ni、Rh、Pt、Pdおよびこれらの合金の群から選択された少なくとも1種を含む第1金属層108aと、その上に形成され、第1金属層108aとは異なる金属、又はそれらの合金を含む第2金属層108bとを含む。
請求項(抜粋):
p型ZnO系単結晶層と、前記p型ZnO系単結晶層に接触し、Ni、Rh、Pt、Pdおよびこれらの合金の群から選択された少なくとも1種を含む第1金属層と、前記第1金属層の上に形成され、前記第1金属層とは異なる金属、又はそれらの合金を含む第2金属層とを含む半導体素子。
IPC (3件):
H01L 33/00 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/363
FI (3件):
H01L 33/00 D ,  H01L 21/28 301 Z ,  H01L 21/363
Fターム (40件):
4M104AA06 ,  4M104BB02 ,  4M104BB04 ,  4M104BB05 ,  4M104BB06 ,  4M104BB07 ,  4M104BB09 ,  4M104BB39 ,  4M104CC01 ,  4M104DD34 ,  4M104DD37 ,  4M104DD79 ,  4M104DD80 ,  4M104FF13 ,  4M104GG04 ,  4M104GG05 ,  4M104HH15 ,  5F041AA21 ,  5F041CA05 ,  5F041CA41 ,  5F041CA46 ,  5F041CA55 ,  5F041CA57 ,  5F041CA66 ,  5F041CA83 ,  5F041CA92 ,  5F041CA98 ,  5F103AA01 ,  5F103AA04 ,  5F103BB07 ,  5F103BB08 ,  5F103DD28 ,  5F103DD30 ,  5F103HH04 ,  5F103KK03 ,  5F103KK10 ,  5F103LL02 ,  5F103PP12 ,  5F103PP13 ,  5F103RR05
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 半導体デバイス
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-082043   出願人:科学技術振興事業団
審査官引用 (1件)
  • 半導体デバイス
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-082043   出願人:科学技術振興事業団

前のページに戻る