特許
J-GLOBAL ID：200903027362038287
チオール基又はスルフィド基含有化合物の検出、濃度測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-162470
公開番号（公開出願番号）：特開2005-345156
出願日： 2004年05月31日
公開日（公表日）： 2005年12月15日
要約：
【課題】 試料中の種々のチオール基あるいはスルフィド基を含有する化合物を、簡便、迅速かつ高精度で検出し、その濃度を測定する。【課題解決手段】 試料内のチオール基あるいはスルフィド基含有化合物を電極表面上に吸着・固定・濃縮し、これを還元的に脱離させ、その電流値、あるいはその時間積分値すなわち脱離電気量、及び脱離時の電位を計測することにより、上記化合物の化学種を識別、検出し、かつその濃度を求める。
請求項（抜粋）：
チオール基あるいはスルフィド基を有する化合物を結合しうる金属あるいは金属酸化物からなる電極と試料とを接触させ、試料中のチオール基あるいはスルフィド基を有する化合物を電極表面に結合させた後、該化合物をアルカリ溶液中でマイナス電位を印加させて還元的に脱離させ、脱離に伴う電気量を計測し、この計測値から試料中のチオール基あるいはスルフィド基を有する化合物濃度を求めることを特徴とする、チオール基あるいはスルフィド基を有する化合物の濃度測定方法。
IPC (4件)：
G01N27/42
, G01N27/416
, G01N27/48
, G01N33/483
G01N27/42 G
, G01N27/48 A
, G01N27/48 301
, G01N33/483 F
, G01N27/46 341M
2G045CA26
, 2G045DA80
, 2G045FB05
