特許
J-GLOBAL ID：200903027375252911
質量分析方法、質量分析システム、診断システム、検査システム及び質量分析プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-373475
公開番号（公開出願番号）：特開2006-177877
出願日： 2004年12月24日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：
【課題】物質(特にタンパク質、糖鎖など)を解析する際に、測定対象がユーザの必要とする物質かどうかの判定を計測の実時間内に実施することを可能にすることである。【解決手段】タンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、試料分離して得られた特定物質をイオン化し、それについて質量分析して得られたスペクトルと、予め記録された特定スペクトルとを比較して、両者が一致するか否かを判定し、一致する場合は特定のイオンについて更にイオン化して詳細分析を実行することを特徴とする質量分析システム。また本発明は質量分析方法、上記質量分析システムを用いた診断システム並びに検査システム及びこれらのシステムを制御するコンピュータに所望の機能を達成させるプログラムを開示する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
タンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、試料分離して得られた特定物質をイオン化するステップと、イオン化物質について質量分析して得られたスペクトルを獲得するステップと、予め記録された特定スペクトルと該スペクトルとを比較し、両者が一致するか否かを判定するステップと、一致する場合は特定のイオンについて、特定の時間内に更にイオン化して詳細分析を実行するステップを有することを特徴とする質量分析方法。
IPC (1件)：
FI (3件)：
G01N27/62 D
, G01N27/62 V
, G01N27/62 X
出願人引用 (1件)
-
未知物質の構造解析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-075356
出願人：株式会社ユービーイー科学分析センター
審査官引用 (6件)
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