特許

J-GLOBAL ID：200903027416360236

故障シミュレーション方法及び装置並びに故障シミュレーションプログラムを記録した記録媒体

発明者： 中湖 貴久
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 西村 征生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-019152
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222445
出願日： 1999年01月27日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】 小さな故障検出率の誤差で高速に故障シミュレーションを行う。【解決手段】 開示される故障シミュレーションでは、故障仮定部12により故障が仮定された被テスト回路にパターン入力部14からテストパターンが入力される。故障シミュレーション部16では、入力されたテストパターンに基づく故障シミュレーションが行われると同時に動作の差がカウントされる。また、ポテンシャリー検出回数計数部20でポテンシャリ検出回数がカウントされる。故障シミュレーション部16でカウントされた動作の差及びポテンシャリ検出回数計数部20でカウントされたポテンシャリ検出回数が、それぞれのしきい値を超えるとき、仮定した故障をしきい値比較部22で削除して故障シミュレーションを行う。

請求項（抜粋）：

設計しようとする大規模な半導体集積回路を電子計算機上に論理的に表現した被テスト回路を用いて前記半導体集積回路のテストパターンの品質をテストするに際して、前記被テスト回路に故障を仮定し、入力されたテストパターンに基づく故障シミュレーションにおいて仮定した故障がハイパーアクティブ故障として検出される故障のうち、演算時間を短縮しかつ誤差となりにくいハイパーアクティブ故障を削除して故障シミュレーションを行う故障シミュレーション方法であって、仮定した前記故障についての複数のハイパーアクティブ故障削除判定量を前記故障シミュレーションに基づいて検出し、検出された前記ハイパーアクティブ故障削除判定量の各々が各ハイパーアクティブ故障削除判定量に対応するしきい値を超えるとき、当該仮定した故障をハイパーアクティブ故障として削除することを特徴とする故障シミュレーション方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G06F 15/60 670 D ,  G01R 31/28 F

Fターム (14件)：

2G032AC08 ,  2G032AE12 ,  2G032AG02 ,  2G032AG03 ,  2G032AG04 ,  5B046AA08 ,  5B046JA01 ,  5B046JA04 ,  9A001BB05 ,  9A001BB06 ,  9A001DD15 ,  9A001HH32 ,  9A001KK37 ,  9A001LL05

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 故障シミュレーション方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-208614   出願人：日本電気株式会社
• 特開平3-255584