特許
J-GLOBAL ID：200903027456876359

分布型光ファイバセンサ

発明者：
岸田 欣増

岸田 欣増 について

, 
李 哲賢

李 哲賢 について

, 
西口 憲一

西口 憲一 について


出願人/特許権者：
ニューブレクス株式会社

ニューブレクス株式会社 について


代理人 (4件)： 小谷 悦司 ,  伊藤 孝夫 ,  樋口 次郎 ,  櫻井 智
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-133074
公開番号（公開出願番号）：特開2008-286697
出願日： 2007年05月18日
公開日（公表日）： 2008年11月27日
要約：
【課題】本発明は、歪み及び/又は温度をより高精度で測定可能な分布型光ファイバセンサを提供する。【解決手段】本発明に係る、ブリルアン散乱現象を利用して歪み及び/又は温度を測定する分布型光ファイバセンサでは、メイン光パルスと、メイン光パルスに先立ち、最大光強度がメイン光パルスの光強度よりも小さく、エネルギーが立ち上がりからメイン光パルスの立ち上がりまで最大光強度で一定の光パルスにおけるエネルギーよりも小さいサブ光パルスとが検出用光ファイバ15に入射され、連続光が検出用光ファイバ15に入射され、そして、検出用光ファイバ15から射出されるこれら光の相互作用によって生じるブリルアン散乱現象に係る光に基づいて検出用光ファイバ15に生じた歪み及び/又は温度が測定される。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
ブリルアン散乱現象を利用して歪み及び/又は温度を測定する分布型光ファイバセンサにおいて、 メイン光パルスと、前記メイン光パルスに先立ち、最大光強度が前記メイン光パルスの光強度よりも小さく、エネルギーが立ち上がりから前記メイン光パルスの立ち上がりまで前記最大光強度で一定の光パルスにおけるエネルギーよりも小さいサブ光パルスとを生成する光パルス光源と、 連続光を生成する連続光光源と、 前記サブ光パルス及び前記メイン光パルスと前記連続光とが入射され、前記サブ光パルス及び前記メイン光パルスと前記連続光との間でブリルアン散乱現象が生じる検出用光ファイバと、 前記検出用光ファイバから射出されるブリルアン散乱現象に係る光に基づいてブリルアン・ゲイン・スペクトル又はブリルアン・ロス・スペクトルを求め、求めた前記ブリルアン・ゲイン・スペクトル又はブリルアン・ロス・スペクトルに基づいて前記検出用光ファイバに生じた歪み及び/又は温度を測定するブリルアン時間領域検出計とを備えること を特徴とする分布型光ファイバセンサ。
IPC (3件)：
G01B 11/16 ,  G01D 5/353 ,  G01K 11/12
FI (3件)：
G01B11/16 Z ,  G01D5/26 D ,  G01K11/12 F
Fターム (28件)：
2F056VF02 ,  2F056VF03 ,  2F056VF11 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16 ,  2F056VF20 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065CC14 ,  2F065FF00 ,  2F065FF32 ,  2F065FF51 ,  2F065GG08 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL21 ,  2F065LL67 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ23 ,  2F103BA37 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EB08 ,  2F103EB18 ,  2F103EC08 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103ED37
引用特許：
出願人引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (1件)

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