半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-005896
公開番号（公開出願番号）：特開平9-197009
出願日： 1996年01月17日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：

【要約】【課題】一般的なLSIテスタを用い、そのままでは測定が困難な高周波動作LSIの選別をこのLSIの動作周波数で行う。【解決手段】周波数のmHzのクロックCLKB同期し4ビットの並列データから成るテストパターンAPを4倍した周波数4mHzのクロックCLKに同期したシリアルデータ信号IPに変換して被検証回路2に供給する入力パターン変換回路1と、被検証回路2がシリアルデータ信号IPの供給に応答して出力した出力パターン信号PPをクロックCLKに同期した4ビットの並列データから成るデータ信号OPに変換する出力パターン変換回路3とを備える。

請求項（抜粋）：

予め定めた様式の試験信号パターンを被検証回路に供給しこの被検証回路が前記試験信号パターンの供給に応答して出力した試験結果信号を測定することにより前記被検証回路の動作を試験する半導体集積回路のテスト回路において、第1の周波数の第1のクロック信号に同期し予め定めたビット数の並列データ信号から成る前記試験信号パターンを前記第1の周波数の整数倍の第2の周波数の第2のクロック信号に同期した直列データ信号から成る直列試験パターン信号に変換して前記被検証回路に供給する入力パターン変換回路と、前記被検証回路が前記直列試験パターン信号の供給に応答して出力した直列試験結果信号を前記第1のクロック信号に同期した前記ビット数の並列データ信号から成る前記試験結果信号に変換する出力パターン変換回路とを備えることを特徴とする半導体集積回路のテスト回路。

引用特許：

審査官引用 (3件)

テスト回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-062300 出願人：沖電気工業株式会社
特開昭63-014445
特開昭64-069973

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