特許
J-GLOBAL ID:200903027671558961
回転体の異常診断方法及び装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 濱田 百合子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-338424
公開番号(公開出願番号):特開2004-170318
出願日: 2002年11月21日
公開日(公表日): 2004年06月17日
要約:
【課題】誤診断を防止するとともに、より精度の高い異常診断を行うことが可能な異常診断装置を提供する。【解決手段】1又は複数の摺動部材ふくむ機械設備の異常を診断する異常診断方法は、前記機械設備から発生する波動を検出するステップと、前記波動の周波数スペクトルを算出するステップと、前記周波数スペクトルの一つの次数成分帯域の自乗平均又はパーシャルオーバオール、及び、前記周波数スペクトルの帯域全体の自乗平均又はオーバーオールである正規化値を算出する第1算出ステップと、前記一つの次数成分帯域の自乗平均又はパーシャルオーバオールを前記正規化値で除した値又は差分の値を算出する第2算出ステップと、前記除した値又は差分の値と所定の定数との比較照合を行うステップと、前記比較照合の結果に基づき、前記機械設備の異常を診断するステップと、を有する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
1又は複数の摺動部材を含む機械設備の異常を診断する異常診断方法であって、
前記機械設備から発生する波動を検出するステップと、
前記波動の周波数スペクトルを算出するステップと、
前記周波数スペクトルの一つの次数成分帯域の自乗平均又はパーシャルオーバオール、及び、前記周波数スペクトルの帯域全体の自乗平均又はオーバーオールである正規化値を算出する第1算出ステップと、
前記一つの次数成分帯域の自乗平均又はパーシャルオーバオールを前記正規化値で除した値又は差分の値を算出する第2算出ステップと、
前記除した値又は差分の値と所定の定数との比較照合を行うステップと、
前記比較照合の結果に基づき、前記機械設備の異常を診断するステップと、を有することを特徴とする異常診断方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (10件):
2G024AD01
, 2G024AD22
, 2G024BA15
, 2G024CA13
, 2G024DA09
, 2G024EA01
, 2G024EA06
, 2G024FA04
, 2G024FA06
, 2G024FA13
引用特許:
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