温度可変型低温度校正装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-056860
公開番号（公開出願番号）：特開2007-232651
出願日： 2006年03月02日
公開日（公表日）： 2007年09月13日
要約：

【課題】本発明は、冷却液や低温寒剤を用いずに、シース型温度計を任意の温度において基準温度計との比較により校正する装置を開発することにより、従来の校正装置では対応できていない90K〜170K、あるいは、77K以下の温度範囲での校正を可能にすることを目的とする。【解決手段】本発明の温度可変型低温度比較校正装置は、冷凍機及びヒーターにより一定の温度に保持され、高熱伝導率の材料から形成される比較校正ブロックを真空ジャケット内に設け、該比較校正ブロック内に基準温度計を取り付ける基準温度計収納部及び被校正温度計を真空ジャケット外から導入パイプを介して挿入する挿入孔を設け、導入パイプに熱交換ガスを充填してなることを特徴としている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

冷凍機及びヒーターにより一定の温度に保持され、高熱伝導率の材料から形成された比較校正ブロックを真空ジャケット内に設け、該比較校正ブロック内に基準温度計を取り付ける基準温度計収納部及び被校正温度計を真空ジャケット外から導入パイプを介して挿入する挿入孔を設け、導入パイプに熱交換ガスを充填してなることを特徴とする温度可変型低温度比較校正装置。

IPC (1件)：

G01K 15/00

FI (1件)：

G01K15/00

Fターム (1件)：

2F056XA01

引用特許：

出願人引用 (3件)

特許第3465402号公報
超低温校正方法および超低温校正装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-108971 出願人：株式会社テイオン
特許第2990276号公報

審査官引用 (4件)

特開昭61-209346
特開昭63-248450
温度計校正装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-261551 出願人：株式会社チノー

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