特許
J-GLOBAL ID：200903027738497318

半導体集積回路の異常検出回路および異常検出装置

発明者：
吉川 康幸

吉川 康幸 について


出願人/特許権者：
エヌイーシーマイクロシステム株式会社

エヌイーシーマイクロシステム株式会社 について


代理人 (1件)： 丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-040648
公開番号（公開出願番号）：特開2002-243800
出願日： 2001年02月16日
公開日（公表日）： 2002年08月28日
要約：
【要約】【課題】 半導体集積回路の製造条件・使用条件によらず、確実に異常状態を検出できる半導体集積回路の異常検出回路および異常検出装置を提供する。【解決手段】 半導体集積回路の動作保障の障害となる構成要素として特定された構成要素と同一構成を有する遅延回路2に、動作クロックに基づく所定信号を入力し、それを介して得た信号と、半導体集積回路の動作保障の基準時間を規定するためのリファレンス信号発生回路4で生成された信号とを比較する。そして、これらの信号の時間的な遅延の比較結果をもとに、半導体集積回路の使用条件が正常動作可能な条件からはずれたか否かを検出する。
請求項（抜粋）：
所定周波数の第1のクロック信号を動作クロックとする半導体集積回路の異常検出回路において、前記半導体集積回路の構成要素の内、その半導体集積回路の動作保障の障害となる構成要素を特定し、前記特定された構成要素と同一構成を有する第1の回路に、前記第1のクロック信号に基づく所定信号を入力して得た第1の信号と、前記半導体集積回路の動作保障の基準時間を規定するための第2の回路で生成された第2の信号とを比較して得た結果をもとに、前記半導体集積回路の使用条件が正常動作可能な条件からはずれたことを検出することを特徴とする半導体集積回路の異常検出回路。
IPC (4件)：
G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 ,  G06F 11/22 330
FI (6件)：
G06F 11/22 310 T ,  G06F 11/22 310 F ,  G06F 11/22 330 B ,  G06F 11/22 330 F ,  G01R 31/28 D ,  G01R 31/28 V
Fターム (22件)：
2G132AA01 ,  2G132AB05 ,  2G132AD05 ,  2G132AD10 ,  2G132AE10 ,  2G132AE14 ,  2G132AE18 ,  2G132AE22 ,  2G132AE27 ,  2G132AG08 ,  2G132AH03 ,  2G132AK09 ,  2G132AK21 ,  2G132AL12 ,  2G132AL31 ,  5B048AA11 ,  5B048AA20 ,  5B048CC01 ,  5B048DD07 ,  5B048DD10 ,  5B048EE02 ,  5B048EE08
引用特許：
審査官引用 (4件)
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