テスト系列生成装置及びテスト容易化設計装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三好秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-042878
公開番号（公開出願番号）：特開平7-254007
出願日： 1994年03月14日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：

【要約】【目的】本発明は回路のテスト容易化設計装置及びテスト系列生成装置の提供を目的とする。【構成】本発明によるテスト容易化設計装置は、その一つの様相によればハードウェア設計言語で設計されたシステムの設計データ格納部と、テストが困難な箇所の探索部と、テスト容易化部と、テスト容易化変換規則格納部と、上記テスト容易化変換後のデータに置換する設計データの変換部と、上記各部分の生成した情報を表示または選択する部分とから構成される。【効果】本発明によるとテスト回路の設計時間が大幅に短縮される。またテスト容易化設計時のバグの混入がなくなる。テスト容易化のための回路仕様がハードウェア設計記述に残る。

請求項（抜粋）：

ハードウェア設計記述により表されたシステムの設計データを格納する格納部と、テストが困難な箇所を探索する探索部と、テスト困難な箇所のテストを容易化するテスト容易化部と、テスト容易化変換の規則を格納したテスト容易化変換規則格納部と、前記テストの容易化に伴って前記設計データの変換を行う変換部と、を有することを特徴とするテスト容易化設計装置。

IPC (4件)：

G06F 17/50 , G01R 31/3183 , H01L 21/66 , H01L 21/82

FI (4件)：

G06F 15/60 360 K , G01R 31/28 Q , G06F 15/60 360 D , H01L 21/82 T

引用特許：

審査官引用 (10件)

特開平2-059967
特開平2-093867
特開平2-133878

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