粒径計測装置及び粒径計測方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石戸久子 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-151567
公開番号（公開出願番号）：特開2000-338029
出願日： 1999年05月31日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：

【要約】【課題】粒子が隙間なく重なり合っているような粒状被検体に対しても適用することができ、計算コストを低減させることができる粒径計測装置とする。【解決手段】粒状被検体10のA/D変換された画像信号の明度の平均値を算出し、該平均値に基づいて、平均値以上である第1の設定値と、平均値以下である第2の設定値とからなる組で、第1の設定値と第2の設定値の少なくとも一方が互いに異なった複数の組を算出し、A/D変換された画像信号が水平方向または垂直方向において1つの組の前記第1の設定値及び第2の設定値のうち、予め決められた規則に従って選択された設定値を跨って変化するときのその画素を変化点として検出し、変化点として検出された画素の数を計数し、複数の組の各々に対して、変化点として計数された画素数に基づいて粒状被検体10の粒径を算出する。

請求項（抜粋）：

粒状被検体の粒径を計測する粒径計測装置であって、粒状被検体を撮像して画像信号を出力する撮像手段と、前記撮像手段からの画像信号をA/D変換するA/D変換器と、前記A/D変換された画像信号の明度の平均値を算出する平均値算出手段と、前記平均値算出手段で求められた前記平均値に基づいて、前記平均値以上である第1の設定値と、前記平均値以下である第2の設定値とからなる組で、第1の設定値と第2の設定値の少なくとも一方が互いに異なった複数の組を算出する設定値算出手段と、前記A/D変換された画像信号から、明度が所定の方向において、各組の前記第1の設定値及び第2の設定値のうち、予め決められた規則に従って選択された設定値を跨って変化するときのその画素を変化点として検出する変化点検出手段と、前記変化点検出手段で変化点として検出された画素の数を計数する計数手段と、前記複数の組の各々に対して、前記計数手段によって計数された画素数に基づいて粒状被検体の粒径を算出する粒径算出手段と、を備えることを特徴とする粒径計測装置。

IPC (3件)：

G01N 15/02 , G01B 11/08 , G06T 7/00

FI (4件)：

G01N 15/02 B , G01N 15/02 C , G01B 11/08 H , G06F 15/62 395

Fターム (29件)：

2F065AA26 , 2F065BB05 , 2F065CC00 , 2F065DD00 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065NN19 , 2F065QQ03 , 2F065QQ06 , 2F065QQ08 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ26 , 2F065QQ27 , 2F065QQ28 , 2F065QQ42 , 2F065QQ51 , 2F065UU05 , 5B057AA07 , 5B057AA10 , 5B057BA02 , 5B057CA08 , 5B057CB06 , 5B057DA13 , 5B057DB08 , 5B057DC02 , 5B057DC16

引用特許：

審査官引用 (1件)

粒径計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-228605 出願人：株式会社トキメック

前のページに戻る