特許
J-GLOBAL ID:200903028355837529

距離測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 土井 健二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-215711
公開番号(公開出願番号):特開平10-062549
出願日: 1996年08月15日
公開日(公表日): 1998年03月06日
要約:
【要約】【課題】測距光路からの受光量を減衰させることなく利用し且つ位相差測定回路のダイナミックレンジを狭くすることができる。【解決手段】光源から送信され目標物で反射した反射光から得られた受信信号と、送信光から直接求めた参照信号との位相差から目標物までの距離を測定する距離測定装置において、反射光及び送信光を受信して受信信号及び参照信号に光電変換する受光部と、反射光の光量に応じて受信信号レベルを所定の許容値に調整するレベル調整手段と、光源と受光部の間に設けられ参照光の光量を前記反射光と同程度または所定の範囲内にする光量調整手段と、レベル調整手段を通した前記受信信号と参照信号との位相差を検出する位相測定部とを有することを特徴とする。測距光路内の光量を減衰させることなく光量減衰率が比較的高い液晶を利用した光量調整手段を参照光路に使用することができる。
請求項(抜粋):
光源からの光が目標物で反射した反射光から得られた受信信号と、前記光源の光を直接受けた参照光から得られた参照信号との位相差から前記光源と目標物間の距離を測定する距離測定装置において、前記反射光及び参照光を受光して前記受信信号及び参照信号に光電変換する受光部と、該反射光の光量に応じて該受信信号レベルを所定の許容値に調整するレベル調整手段と、前記光源と受光部の間に設けられ、前記参照光の光量を前記反射光と同程度または所定の範囲内にする光量調整手段と、前記レベル調整手段を通した前記受信信号と前記光量調整手段を通した参照光に基づく参照信号との位相差を検出する位相測定部とを有することを特徴とする距離測定装置。
IPC (5件):
G01S 17/36 ,  G01B 11/00 ,  G01J 1/02 ,  G01S 7/48 ,  G01S 13/08
FI (5件):
G01S 17/36 ,  G01B 11/00 B ,  G01J 1/02 A ,  G01S 7/48 Z ,  G01S 13/08
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特公昭51-008339
  • 特開昭64-072092
  • レーザ測距装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-256958   出願人:三菱電機株式会社

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