特許

J-GLOBAL ID：200903028646422598

X線診断装置及びその校正方法

発明者： 菅原 靖宏 ,  富崎 隆之
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝メディカルシステムズ株式会社
代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-108611
公開番号（公開出願番号）：特開2006-280853
出願日： 2005年04月05日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：

【課題】ユーザサイドで、X線平板検出器における新たな欠陥画素位置を検出して、更新し、その欠陥画素位置の画素値を補完できる技術を提供することである。【解決手段】欠陥位置検出部700により、暗時の画素値を基にX線平面検出器300の欠陥画素位置を検出する。そして、補完手段600により、オフセット補正された曝射時画素値を受けて、欠陥画素位置に隣接する位置の曝射時画素値を基に欠陥画素位置の画素値を生成し、欠陥画素位置における異常な画素値の代わりに、生成された該画素値で補完された曝謝時画素値を出力する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

X線の曝射を行う曝射手段と 平面状に、X線を検出する画素検出素子が配列されたX線平面検出器と、 前記X線平面検出器から所定の画素単位で、前記曝射によるX線を受けたときの画素値又は曝射停止時の暗時画素値を選択的に出力させる読出制御手段と、 前記暗時画素値に基づいて前記画素値をオフセット補正するオフセット補正部と、 前記暗時画素値に基づいて前記X線平面検出器の欠陥画素位置を検出する欠陥位置検出部と、 オフセット補正された前記画素値を受けて、前記欠陥画素位置に隣接する位置の前記画素値に基づいて該欠陥画素位置の画素値を生成し、生成された該画素値で補完された前記画素値を出力する欠陥点補完手段とを備えたことを特徴とするX線診断装置。

IPC (1件)：

A61B 6/00

FI (1件)：

A61B6/00 300S

Fターム (14件)：

4C093AA01 ,  4C093CA36 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FB12 ,  4C093FC18 ,  4C093FC19 ,  4C093FD03 ,  4C093FD07 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FD13 ,  4C093GA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線平面検出器のパラメータ調整方法及びその装置、X線診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-043485   出願人：株式会社東芝