特許

J-GLOBAL ID：200903028910881008

らせん軌道型飛行時間型質量分析装置

発明者： 津野 久幸 ,  佐藤 貴弥
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (2件)： 井島 藤治 ,  鮫島 信重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-044744
公開番号（公開出願番号）：特開2007-227042
出願日： 2006年02月22日
公開日（公表日）： 2007年09月06日
要約：

【課題】本発明はらせん軌道型TOFMSに関し、コンパクトなスペースで、らせん軌道型TOFMS1台でMSnができる装置として用い、またらせん軌道型TOFMSが本来持っている高分解能、高質量精度の機能を十分に生かした高度なMSnを効率よく実現することを目的としている。【解決手段】 らせん軌道型TOFMSにおいて、該TOFMSの両端に設けた、イオンの加速と減速を行なうことができる加速減速部33,34と、該加速減速部33,34によりイオンをTOFMS空間を往復させてTOFMS機構を実現する往復手段とを設けて構成される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

らせん軌道型飛行時間型質量分析装置において、該飛行時間型質量分析装置の両端に設けた、イオンの加速と減速を行なうことができる加速減速部と、 該加速減速部によりイオンを飛行時間型質量分析装置空間を往復させて飛行時間型質量分析装置機構を実現する往復手段と、 を設けたことを特徴とするらせん軌道型飛行時間型質量分析装置。

IPC (2件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 K

Fターム (8件)：

2G041CA01 ,  2G041FA06 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041KA01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 飛行時間型質量分析計のイオン光学系
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-041374   出願人：日本電子株式会社
• 飛行時間型質量分析計のイオン光学系
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-275940   出願人：日本電子株式会社