半導体集積回路の試験回路

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：有我軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-243269
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083950
出願日： 1997年09月09日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】本発明は、マイクロプロセッサ等の半導体集積回路の動作周波数を適切に検出し、この検出結果に基づいて、半導体集積回路の処理性能を容易に選別することができる試験回路を提供することを課題とする。【解決手段】 LSIチップ1は、所定の論理ゲートが形成された機能領域aと、この機能領域に隣接して形成された試験回路とを有し、試験回路は、機能領域aに入力される試験信号Saを設定する入力信号設定手段bと、機能領域aにより処理された試験信号と所定の期待値信号とを比較する出力信号評価手段cと、出力信号評価手段cからの評価結果に基づいて、機能領域aへの試験状態を切り換える試験状態切換手段dと、少なくとも入力信号設定手段b及び出力信号評価手段cに所定の周波数のクロック信号を供給するクロック供給手段eと、を有して構成されている。

請求項（抜粋）：

【請求項1】集積回路チップ上に形成される機能領域の動作周波数を試験する半導体集積回路の試験回路において、該試験回路は、前記機能領域に入力される試験信号を設定する入力信号設定手段と、前記機能領域により処理された前記試験信号と所定の期待値信号とを比較する出力信号評価手段と、該出力信号評価手段からの評価結果に基づいて、前記機能領域への試験状態を切り換える試験状態切換手段と、少なくとも前記入力信号設定手段及び前記出力信号評価手段に所定の周波数のクロック信号を供給するクロック供給手段と、を具備し、前記クロック供給手段から供給される前記クロック信号の周波数を順次変更して前記機能領域の試験を行うことを特徴とする半導体集積回路の試験回路。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G01R 31/26 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (3件)：

G01R 31/28 V , G01R 31/26 G , H01L 27/04 T

引用特許：

審査官引用 (7件)

論理回路テスト回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-299670 出願人：川崎製鉄株式会社
特開平4-186176
マージン試験回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-141770 出願人：富士通株式会社

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