特許
J-GLOBAL ID：200903029106752900
ゲル化過程またはゲル状態の観測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
亀井 弘勝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-015959
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214086
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：
【要約】【課題】 非エルゴード性試料のゲル化過程またはゲル状態をリアルタイムで測定することのできる観測方法を提供する。【解決手段】 本発明のゲル化過程またはゲル状態の観測方法は、非エルゴード性試料8に光を照射して得られる散乱光を、レンズ12、CCDカメラ15、受光素子18等の結像手段を通じて、二次元散乱強度データとして検出し、一定の散乱角θにおける二次元散乱強度データを抽出して解析することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
非エルゴード性試料に光を照射して得られる散乱光を、結像手段を通して二次元散乱強度データとして検出し、この検出されたデータの中から一定の散乱角における二次元散乱強度データを抽出して解析することを特徴とするゲル化過程またはゲル状態の観測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/49 Z
, G01N 21/47 B
2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059JJ20
, 2G059JJ23
, 2G059JJ25
, 2G059KK04
, 2G059MM03
