特許

J-GLOBAL ID：200903029106752900

ゲル化過程またはゲル状態の観測方法

発明者： 柴山 充弘 ,  則末 智久
出願人/特許権者： 大塚電子株式会社
代理人 (1件)： 亀井 弘勝 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-015959
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214086
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：

【要約】【課題】 非エルゴード性試料のゲル化過程またはゲル状態をリアルタイムで測定することのできる観測方法を提供する。【解決手段】 本発明のゲル化過程またはゲル状態の観測方法は、非エルゴード性試料8に光を照射して得られる散乱光を、レンズ12、CCDカメラ15、受光素子18等の結像手段を通じて、二次元散乱強度データとして検出し、一定の散乱角θにおける二次元散乱強度データを抽出して解析することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

非エルゴード性試料に光を照射して得られる散乱光を、結像手段を通して二次元散乱強度データとして検出し、この検出されたデータの中から一定の散乱角における二次元散乱強度データを抽出して解析することを特徴とするゲル化過程またはゲル状態の観測方法。

IPC (2件)：

G01N 21/49 ,  G01N 21/47

FI (2件)：

G01N 21/49 Z ,  G01N 21/47 B

Fターム (10件)：

2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ23 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM03

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-235040
  
• 光散乱測定を利用した物質の構造解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-095219   出願人：大塚電子株式会社
• ポリ塩化ビニルのゲル化度の測定方法及び測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-274710   出願人：東ソー株式会社
• 特公平8-033371
  

引用文献：

審査官引用 (1件)

• “高分子物理ゲルの微視的構造不均一性”