特許
J-GLOBAL ID：200903029236505646
時間分解・非線形複素感受率測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平山 一幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-001549
公開番号（公開出願番号）：特開2004-163384
出願日： 2003年01月07日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
【課題】プローブ光の波面の歪みに影響されることなく測定できる、時間分解・非線形複素感受率測定装置を提供する。【解決手段】フェムト秒領域の光パルスを照射して生ずる非線形光学材料の非線形複素感受率の時間変化を偏光分割型サニャック型干渉光路8中で単一の光パルスを分割して生成した互いに直交する偏光を参照光5とプローブ光6に用いて測定する。偏光分割型サニャック型干渉光路中で参照光5及びプローブ光6の偏光方向を90度回転する偏光方向変換機構により被測定試料面3での偏光方向を揃え、偏光分割型サニャック型干渉光路を出力した参照光とプローブ光間の位相差を位相差掃引機構9で掃引し、掃引する各々の位相差における参照光とプローブ光との干渉光強度を測定して得られる位相差掃引干渉波形から時間分解・非線形複素感受率を求める。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
参照光とプローブ光が伝搬するサニャック型干渉光路と、この光路中に配置される被測定試料に照射する光パルスを供給し、かつ、上記サニャック型干渉光路に光パルスを供給する光パルス光源と、上記参照光とプローブ光との干渉光強度を測定する測定器とを有する、時間分解・非線形複素感受率測定装置において、
上記参照光とプローブ光とが互いに直交する偏光であり、
上記サニャック型干渉光路が偏光分割型サニャック型干渉光路であり、
上記偏光分割型サニャック型干渉光路中で上記参照光及びプローブ光の偏光方向を90度回転する偏光方向変換機構と、
上記偏光分割型サニャック型干渉光路を出力した上記参照光とプローブ光間の位相差を掃引する位相差掃引機構と、
上記参照光とプローブ光間の位相差を、上記光パルスが偏光分割型サニャック型干渉光路へ入射する前に補償する位相差補償機構とを有し、
上記偏光分割型サニャック型干渉光路から出力した参照光とプローブ光間の位相差を掃引し、この掃引する各々の位相差における参照光とプローブ光との干渉光強度を測定して得られる位相差掃引干渉波形から、時間分解・非線形複素感受率を求めることを特徴とする、時間分解・非線形複素感受率測定装置。
IPC (3件)：
G01M11/00
, G01J9/02
, G01J11/00
G01M11/00 T
, G01J9/02
, G01J11/00
2G065AB02
, 2G065AB08
, 2G065AB15
, 2G065BA01
, 2G065BB14
, 2G065BB32
, 2G065BB33
, 2G065BB37
, 2G065BC04
, 2G065DA05
, 2G065DA13
, 2G086EE12
