特許
J-GLOBAL ID：200903029431437744
磁気共鳴測定装置及びその方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鵜沼 辰之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-054518
公開番号（公開出願番号）：特開平10-248822
出願日： 1997年03月10日
公開日（公表日）： 1998年09月22日
要約：
【要約】【課題】 傾斜磁場の印加によって生じる磁場不均一の影響を低減し、拡散係数および拡散強調画像の高精度な測定を可能とする測定装置及びその方法を提供する。【解決手段】 拡散傾斜磁場27やリードアウト傾斜磁場25など印加する傾斜磁場の印加強度、印加時間、印加タイミングなどに応じて、傾斜磁場のオフセット磁場およびシムコイルへ供給する電流を調整する手段を有する。これにより、傾斜磁場印加に伴う磁場均一度の低下を抑制し、磁場不均一による信号低下などを低減する。【効果】 磁場不均一による信号強度の低下などを抑制することができ、拡散係数および拡散強調画像を高精度に測定することが可能となる。
請求項（抜粋）：
静磁場、傾斜磁場および高周波磁場の各磁場発生手段と、各磁場の印加を制御する制御手段を有し、対象物体中の分子の拡散を観察するために、拡散により信号減衰を生じせしめるための拡散傾斜磁場を印加する測定装置において、前記制御手段は前記拡散傾斜磁場に応じてオフセット磁場を前記傾斜磁場発生手段によって発生させることを特徴とする磁気共鳴測定装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
A61B 5/05 311
, A61B 5/05 341
, G01N 24/06 510 Y
