特許

J-GLOBAL ID：200903029532420354

光ファイバ歪測定装置

発明者： 内山 晴義 ,  李 哲賢 ,  佐藤 泰史 ,  倉嶋 利雄
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社 ,  日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-243760
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090121
出願日： 1996年09月13日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：

【要約】【課題】 信号レベルの変動が生じず正確な測定を行うことができる光ファイバ歪測定装置を提供すること。【解決手段】 光分岐器102は光源101において発生した周波数が一定の連続光を信号光と参照光とに分岐する。信号光は光周波数シフタ103において周波数が変換され、パルス化装置104において光パルスに変換された後、偏波面回転器105において偏波面がランダムに変化されて被測定光ファイバへ入射する。偏波面回転器160は光分岐器102から出射される参照光の偏波面をランダムに回転させる。偏波面回転器160を通過した参照光と被測定光ファイバ107から出射される後方散乱光とは光合波器109において合波される。光検出器110は光合波器109から出射される合波光をヘテロダイン検波して検出信号に変換する。信号処理部111は検出信号に所定の演算を施し、測定波形を得る。

請求項（抜粋）：

光周波数が一定の連続光を発生する連続光発生手段と、前記連続光を信号光と参照光とに分岐する分岐手段と、前記信号光を、光パルスに変換する変換手段と、前記光パルスの偏波面を回転させる第1の偏波面回転手段と、前記第1の偏波面回転手段から出射される光パルスを被測定光ファイバへ入射させるとともに、該被測定光ファイバにおける後方散乱光を出射させる光結合手段と、前記参照光の偏波面を回転させる第2の偏波面回転手段と、前記光結合手段から出射される後方散乱光と、前記第2の偏波面回転手段から出射される参照光とを合波する合波手段と、前記合波手段から出射される合波光を検波して電気信号に変換し、所定の演算処理を施して測定波形を得る検波演算手段とを具備することを特徴とする光ファイバ歪測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/02 ,  G01M 11/00

FI (2件)：

G01M 11/02 J ,  G01M 11/00 R

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光パルス試験器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-196491   出願人：日本電信電話株式会社
• 特開昭63-313030