特許
J-GLOBAL ID：200903029607272003

再設定可能なサンプルホルダー

発明者：
デビッド ロバーツ マクマートリー

デビッド ロバーツ マクマートリー について


出願人/特許権者：
レニショウ パブリック リミテッド カンパニー

レニショウ パブリック リミテッド カンパニー について


代理人 (2件)： 谷 義一 ,  阿部 和夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-562562
公開番号（公開出願番号）：特表2005-515458
出願日： 2003年01月22日
公開日（公表日）： 2005年05月26日
要約：
装置は、ベース(2)と、ベース(2)に繰り返し(おそらく、運動学的に)少なくとも第1の面および第2の面に取り付けられるようにした再設定可能なサンプルホルダー(4)とを有するものが開示されている。そのベースに取り付けられる場合、少なくとも二つの面の間の関係が知られ、それによって、試料(13)がそのホルダーに取り付けられる場合、そのホルダーの異なる面がそのベースに受け止められるとき、その試料の異なる位置の間の関係が知られる。少なくとも二つの面の間の関係が、ベースに受け止められる場合、ホルダーについての位置情報をもたらすサンプルホルダー(4)上の基準部品により設定され得る。その基準部品は、対比試験片、そのホルダーに関連付けられる球体あるいは棒材によりもたらされ得る。また、例えば、走査、または機械加工における装置および操作方法、本発明に従うベースおよび再設定可能なサンプルホルダーを使用する少なくとも二つのステージにおける試料が開示されている。
請求項（抜粋）：
ベースと、少なくとも第1および第2の面で該ベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーとを含む装置において、 前記ベースに取り付けられた場合、前記少なくとも二つの面の間の関係が知られ、それにより、試料が前記再設定可能なサンプルホルダーに取り付けられる場合、該設定可能なサンプルホルダーの異なる面が前記ベースに取り付けられるとき、該試料における異なる位置の相互間の関係が知られることを特徴とする装置。
IPC (2件)：
G01N1/28 ,  G01B21/00
FI (2件)：
G01N1/28 W ,  G01B21/00 L
Fターム (45件)：
2F062AA04 ,  2F062AA51 ,  2F062BC80 ,  2F062CC22 ,  2F062CC27 ,  2F062DD23 ,  2F062EE01 ,  2F062EE07 ,  2F062EE47 ,  2F062EE62 ,  2F062EE71 ,  2F062FF05 ,  2F062FF12 ,  2F062FF22 ,  2F062FF25 ,  2F062FG08 ,  2F062GG71 ,  2F062HH00 ,  2F062JJ01 ,  2F062MM03 ,  2F062MM07 ,  2F062MM08 ,  2F069BB40 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG71 ,  2F069HH01 ,  2F069JJ01 ,  2F069MM02 ,  2F069PP02 ,  2G052AA11 ,  2G052AA14 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052CA03 ,  2G052CA48 ,  2G052DA33 ,  2G052GA01 ,  2G052GA18 ,  2G052GA31 ,  2G052HA12 ,  2G052JA05 ,  2G052JA08 ,  2G052JA16
引用特許：
審査官引用 (4件)
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