投射型表示装置、照明装置、及び表示装置用半導体光源の素子特性測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：渡邊隆 , 志賀正武 , 実広信哉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-088063
公開番号（公開出願番号）：特開2004-296841
出願日： 2003年03月27日
公開日（公表日）： 2004年10月21日
要約：

【課題】投射型表示装置もしくは照明装置等の半導体光源の通電劣化状況を、正確に測定・検出・判別しそれを報知する手段、更には測定・判断する方法を提供することにより、これらの装置利用者に光源ユニットの作動状況もしくは交換時期を正しく知らしめることを可能にする。【解決手段】光源である半導体発光素子1,2,3の素子特性を当該投射型表示装置内部で測定する測定手段と、該測定手段で測定された測定データを処理・判定することにより当該半導体発光素子の特性状況もしくは特性変化を判断する処理手段とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体発光素子を光源に用いた投射型表示装置であって、当該半導体発光素子の素子特性を当該投射型表示装置内部で測定する測定手段と、該測定手段で測定された測定データを処理・判定することにより当該半導体発光素子の特性状況もしくは特性変化を判断する処理手段と、を備えることを特徴とする投射型表示装置。

IPC (5件)：

H01L33/00 , G03B21/14 , H04N5/66 , H04N5/74 , H05B37/02

FI (5件)：

H01L33/00 K , G03B21/14 A , H04N5/66 103 , H04N5/74 Z , H05B37/02 J

Fターム (40件)：

2K103AB10 , 2K103BA02 , 2K103BA11 , 2K103BA14 , 2K103CA49 , 2K103CA54 , 2K103CA62 , 2K103CA71 , 2K103CA72 , 3K073AA16 , 3K073AA38 , 3K073AA82 , 3K073AA85 , 3K073BA09 , 3K073BA22 , 3K073BA26 , 3K073CD09 , 3K073CE13 , 3K073CF10 , 3K073CF12 , 3K073CF13 , 3K073CG06 , 3K073CH14 , 3K073CJ17 , 3K073CJ22 , 5C058AA13 , 5C058BA35 , 5C058BB11 , 5C058EA21 , 5C058EA51 , 5F041AA14 , 5F041AA31 , 5F041AA46 , 5F041BB11 , 5F041BB13 , 5F041BB33 , 5F041CB36 , 5F041EE25 , 5F041FF01 , 5F041FF11

引用特許：

審査官引用 (8件)

照明装置システムおよび該照明装置システムを有するプロジェクタ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-158892 出願人：株式会社リコー
光源装置,光学装置および液晶表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-134770 出願人：セイコーエプソン株式会社
投射型表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-312067 出願人：株式会社ニコン

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