情報取得方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：山下穣平 , 志村博 , 永井道雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-340565
公開番号（公開出願番号）：特開2006-153493
出願日： 2004年11月25日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：

【課題】対象物からの情報取得方法に関し、対象物の種類ごとに空間分解能の高い二次元分布像を得る情報取得方法を提供することである。【解決手段】対象物を構成する構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得し、取得した質量情報に基づいて該構成物の分布状態に関する情報を得る情報取得方法であって、該構成物のイオン化を促進するためにpHが6以下の水溶液を付与する工程と、集束し、パルス化し、かつ走査可能なイオン、中性粒子、電子、並びに、集光し、パルス化し、かつ走査可能なレーザー光の中から選ばれる一つの一次ビームを用いて該構成物をイオン化し、該構成物を飛翔させる工程と、該飛翔した構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得する工程と、該質量を有する構成物の分布状態に関する情報を得る工程と、を備えることを特徴とする情報取得方法。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

対象物を構成する構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得し、取得した質量情報に基づいて該構成物の分布状態に関する情報を得る情報取得方法であって、該構成物のイオン化を促進するためにpHが6以下の水溶液を付与する工程と、集束し、パルス化し、かつ走査可能なイオン、中性粒子、電子、並びに、集光し、パルス化し、かつ走査可能なレーザー光の中から選ばれる一つの一次ビームを用いて該構成物をイオン化し、該構成物を飛翔させる工程と、該飛翔した構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得する工程と、該質量を有する構成物の分布状態に関する情報を得る工程と、を備えることを特徴とする情報取得方法。

IPC (1件)：

G01N 27/62

FI (3件)：

G01N27/62 V , G01N27/62 K , G01N27/62 Y

引用特許：

出願人引用 (1件)

電界解放型質量分析法
公報種別：公表公報出願番号：特願2000-518407 出願人：ノースイースタン・ユニバーシティ

審査官引用 (1件)

飛行時間型二次イオン質量分析法による素子の情報取得方法、および、情報取得装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-161862 出願人：キヤノン株式会社

引用文献：

審査官引用 (2件)

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