形状測定装置、文書スキャナ及びプロジェクタ

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柏木慎史 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-347192
公開番号（公開出願番号）：特開2003-148935
出願日： 2001年11月13日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
要約：

【要約】【課題】領域分割強度比法等のように、複数に分割された部分領域に光パターンを照射するパターン光投影法を用いる上で、部分領域同士の分離を明確にし、部分領域判定の曖昧さを除去できるようにする。【解決手段】照明手段Lから照射される光パターンを照明光としてn分割されたスリット状の部分領域Ai(i=1〜n)を照射するが、各部分領域Ai間に形状を求めるためには用いない分離領域Wi(i=1〜n-1)を設けることで、部分領域Ai端で生ずる形状の異常値を取り除けるようにした。分離領域Wiに関しては何らかの方法で部分領域Aiと区別すればよい。分離領域Wiの範囲を特定した後、残った部分領域Aiに対して部分領域番号iの曖昧さを残した形状データSiを推定し、その後、その曖昧さを除去することで目的とする形状データZiが求められる。

請求項（抜粋）：

視差方向に対して垂直に分割され、分離領域Wi(i=1〜n-1)を間に挟んで互いに重なりのないn個のスリット状の部分領域Ai(i:1〜nなる部分領域番号を意味する自然数)からなる測定領域Aに対して、各々の部分領域Aiと分離領域Wiとで対をなす領域毎に1種類以上の光パターンPiを照明する照明手段と、この照明手段に対する視差が予め特定されて前記測定領域Aに照明された光パターンPiの反射光を受光する受光手段と、この受光手段で受光した反射光の光量Riの情報に基づき、前記部分領域Aiに関する部分領域番号iの曖昧さを残したまま前記照明手段と前記受光手段との前記視差を用いて前記部分領域Aiの形状データSiを推定する形状推定手段と、推定された形状データSiにおける部分領域番号iの曖昧さを除去して前記部分領域Ai毎に曖昧さのない形状データZiを求める形状補正手段と、を備える形状測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/25 , G06T 1/00 315 , G06T 1/00 430

FI (3件)：

G06T 1/00 315 , G06T 1/00 430 G , G01B 11/24 E

Fターム (46件)：

2F065AA53 , 2F065BB01 , 2F065BB05 , 2F065BB18 , 2F065CC02 , 2F065DD02 , 2F065DD03 , 2F065DD04 , 2F065DD06 , 2F065EE05 , 2F065EE08 , 2F065FF02 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065FF41 , 2F065GG08 , 2F065GG12 , 2F065GG23 , 2F065HH06 , 2F065HH07 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL24 , 2F065QQ31 , 5B047AA07 , 5B047AB02 , 5B047BA02 , 5B047BB04 , 5B047BC05 , 5B047BC07 , 5B047BC12 , 5B047BC14 , 5B047BC23 , 5B047CA19 , 5B047CB23 , 5B047DC09 , 5B057AA01 , 5B057BA02 , 5B057BA19 , 5B057DA07 , 5B057DA08 , 5B057DB03 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC22 , 5B057DC36

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平4-098106
3次元形状計測方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-304086 出願人：松下電工株式会社
特開昭54-126068

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