特許

J-GLOBAL ID：200903029885519346

分光光度計

発明者： 田中 豊彦
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-093958
公開番号（公開出願番号）：特開2005-283178
出願日： 2004年03月29日
公開日（公表日）： 2005年10月13日
要約：

【課題】 簡単且つ廉価な構成で、使用頻度の高い拡散反射測定、ATR測定、及びファイバ測定を切り替え可能な付属装置を提供する。 【解決手段】 入射光学系において、楕円面鏡33は平面鏡31で方向を変えられた光の焦点位置Aと試料測定点B(B’)とに共焦点を持つため、平面鏡32でさらに向きを変えられた光は楕円面鏡33で集光されて試料測定点B又はB’に照射される。出射光学系は試料測定点を挟んで入射光学系と左右対称の構成を有し、試料測定点B又はB’から出た光は楕円面鏡35で集光され平面鏡37、38を経て光検出器へと送る。試料測定点B又はB’に試料を置くことにより拡散反射測定が行え、プリズムを置くことによってATR測定が可能である。また、両方の試料測定点(焦点)を離して光ファイバを介することにより光ファイバ測定も行える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試料に測定光を照射し、該測定光に対する試料での透過光や反射光を検出する分光光度計において、 a)光照射部から所定位置に集光するように入射された測定光を反射する平面鏡、該平面鏡で方向を変えられた光の焦点位置と試料測定点とに共焦点を持ち、前記平面鏡で反射された測定光を該試料測定点に集光して照射する楕円面鏡、及び、該楕円面鏡をその入射光軸を中心として回転させる回転手段、を含む入射光学系と、 b)前記試料測定点を含む面に対し前記入射光学系と略鏡面対称に配置された、平面鏡、楕円面鏡、回転手段を含む出射光学系と、 を備え、前記入射光学系及び出射光学系の回転手段によりそれぞれ楕円面鏡を回転させることで、試料測定点の位置を変化させて異なる測定手法に対応させたことを特徴とする分光光度計。

IPC (3件)：

G01N21/27 ,  G01J3/02 ,  G01N21/35

FI (4件)：

G01N21/27 C ,  G01N21/27 B ,  G01J3/02 Z ,  G01N21/35 Z

Fターム (20件)：

2G020AA03 ,  2G020BA11 ,  2G020CA02 ,  2G020CB04 ,  2G020CB07 ,  2G020CB54 ,  2G059AA01 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 赤外分光光度計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-178130   出願人：株式会社島津製作所