特許
J-GLOBAL ID：200903030098292090
フレーム原子吸光光度計、及びその制御方法
出願人/特許権者：
株式会社日立製作所
, 株式会社日立製作所 について
株式会社日立サイエンスシステムズ
株式会社日立サイエンスシステムズ について
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-156038
公開番号（公開出願番号）：特開2000-346799
出願日： 1999年06月03日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：
【要約】【課題】測定開始の実行時機を吸光度の増加量及び吸光度の安定性から自動的に決定して、簡便かつ分析精度を向上することができる原子吸光光度計を提供する。【解決手段】フレーム原子吸光光度計の制御方法において、成分が既知の試料を測定するステップ、測定試料の吸光度を算出し、当該算出した吸光度の安定度を判定を行うステップ、上記安定度の判定の結果が安定である時に測定した吸光度の記録を行うステップとを有する。【効果】自動的に測定実行時機の最適化を行うことにより簡便かつ分析精度を向上することができる。
請求項（抜粋）：
測定試料を吸引し霧状態にする試料導入手段と、導入した試料を加熱し原子化を行う加熱手段と、原子化した試料に対して測定光を照射する発光手段と、上記測定光を任意の波長毎に分光する分光手段と、当該分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、当該検出手段により検出された光度から吸光度へ変換を行う変換手段と、当該変換した吸光度の表示を行う表示手段とを有するフレーム原子吸光光度計の制御方法において、成分が既知の試料を測定するステップ、測定試料の吸光度を算出し、当該算出した吸光度の安定度の判定を行うステップ、上記安定度の判定の結果が安定である時に測定した吸光度の記録を行うステップとを有することを特徴とするフレーム原子吸光光度計の制御方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (12件)：
2G059AA01
, 2G059DD01
, 2G059DD15
, 2G059EE01
, 2G059JJ01
, 2G059MM01
, 2G059MM04
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059PP01
, 2G059PP04
引用特許：
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