特許
J-GLOBAL ID：200903030171474673
集積回路のテスト方法と回路配置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
高橋 敬四郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-391273
公開番号（公開出願番号）：特開2002-228726
出願日： 2001年12月25日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
要約：
【要約】【課題】集積回路の内部信号をテストするための既知の方法では、出力ピンを追加する必要があり、該ピンは、一般に、該集積回路内に追加された測定パッドに接続されていた。【解決手段】本発明の新規の方法では、集積回路の通常動作中に出力信号が与えられる出力ピンを用いることによって回路機能のテストを行う。信号出力点に所定の電圧値を設定するために役立つ簡便な外部接続を利用することにより、集積回路が、集積された制御ユニットによってテストモードに転換され、該テストモードにおいて、テスト対象として選択された信号が信号出力点に送られる。内部測定パッドや出力ピンを追加する必要はない。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの信号出力端子(OUT)を有し、テストモードに転換することが可能で、かつ少なくとも1つの回路ユニット(SCH)を有する集積回路(IC)をテストするための方法であって、・電位を該信号出力端子(OUT)に印加することによってテストモードへの転換を行い、・テストモードにおいては、該回路ユニット(SCH)から発生するテスト信号(SW1、 SW2)を該信号出力端子(OUT)に送る集積回路のテスト方法。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G01R 31/3185
, H01L 21/822
, H01L 27/04
G01R 31/28 W
, H01L 27/04 T
2G132AA00
, 2G132AK10
, 2G132AK15
, 2G132AK16
, 2G132AK22
, 2G132AL05
, 5F038BE02
, 5F038BE05
, 5F038DF14
, 5F038DT02
, 5F038DT05
, 5F038DT15
, 5F038EZ20
