特許

J-GLOBAL ID：200903030376614958

質量分析方法および質量分析装置

発明者： 吉松 伸起
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (3件)： 宮崎 昭夫 ,  石橋 政幸 ,  緒方 雅昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-178592
公開番号（公開出願番号）：特開2009-014608
出願日： 2007年07月06日
公開日（公表日）： 2009年01月22日
要約：

【課題】イオン化効率が向上した質量分析方法を提供する。【解決手段】試料から放出されるイオンを検出して質量分析を行う質量分析方法において、その試料近傍に設けられた導電体へ光を照射してプラズモン共鳴を発生させた状態で、その試料へエネルギービームを照射してイオン化を行う。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

試料から放出されるイオンを検出して質量分析を行う質量分析方法であって、 前記試料近傍に設けられた導電体へ光を照射してプラズモン共鳴を発生させた状態で、前記試料へエネルギービームを照射してイオン化を行うことを特徴とする質量分析方法。

IPC (3件)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/10 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01N27/62 G ,  H01J49/10 ,  G01N21/27 C

Fターム (17件)：

2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA16 ,  2G041FA16 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041JA15 ,  2G059AA05 ,  2G059AA10 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ12 ,  5C038GG01 ,  5C038GG02 ,  5C038GG07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 二次イオン質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-253868   出願人：日本電気株式会社