特許

J-GLOBAL ID：200903030397395644

超音波診断装置及び超音波による組織性状の定量解析方法

発明者： 神山 直久 ,  蜂屋 弘之 ,  山口 匡
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-054201
公開番号（公開出願番号）：特開2001-238884
出願日： 2000年02月29日
公開日（公表日）： 2001年09月04日
要約：

【要約】【課題】組織形状が正常な状態からどの程度逸脱しているかを示す定量的な情報を精度良く、自動的に、且つ簡単に提示する。【解決手段】被検体に超音波パルスを照射することにより断層像を得る超音波診断装置である。この装置は、断層像内の一部に解析領域を設定する手段(13、40、36、26)と、解析領域に相当する被検体部位に超音波パルスを定量解析用の送信条件に従って送信し且つその送信に伴って被検体部位から発生するエコー信号を受信する手段(12、21、22、23)と、エコー信号に基づき組織性状を定量解析する手段(24、31〜33)とを備える。

請求項（抜粋）：

被検体に超音波パルスを照射することにより断層像を得る超音波診断装置において、前記断層像内の少なくとも一部に解析領域を設定する解析領域設定手段と、前記解析領域に相当する被検体部位に前記超音波パルスを定量解析用の送信条件に従って送信し且つその送信に伴って前記被検体部位から発生するエコー信号を受信する定量解析用送受信手段と、前記エコー信号に基づき組織性状を定量解析する定量解析手段と、を備えたことを特徴とする超音波診断装置。

Fターム (6件)：

4C301CC02 ,  4C301DD11 ,  4C301EE11 ,  4C301JB27 ,  4C301JB50 ,  4C301KK30