特許
J-GLOBAL ID：200903030452172137
ワイドレンジ粒子カウンター
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 神田 藤博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-095423
公開番号（公開出願番号）：特開2004-301689
出願日： 2003年03月31日
公開日（公表日）： 2004年10月28日
要約：
【課題】幅広い粒子サイズ範囲に亘って高精度且つ高信頼度でエーロゾルを測定する。【解決手段】ワイドレンジの粒子カウンター10は、エーロゾル中の粗大粒子及び細かい粒子を別々に検出する区分を有する。粗大粒子は、光学的粒子カウンターでカウントされ、サイズが決定される。細かい粒子は、そのサイズを決定するため差動移動度分析器で分類され、次に、蒸発器及び凝結器を通過され、カウントされる。異なる区分を使用することは、単一装置内で、幅広い粒子サイズを、高精度且つ高信頼度で、カウントし、測定することを可能にする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
幅広い粒子サイズ範囲に亘ってガス中の粒子を検出する装置であって、
前記幅広い粒子サイズ範囲は、上限及び下限と、該上限及び下限の間の中間粒子サイズと、を含んでおり、
前記装置は、
前記上限及び前記中間粒子サイズの間の粗大粒子範囲にある粗大粒子を検出する、粗大粒子検出器と、
前記下限及び前記中間粒子サイズの間の細かい粒子範囲にある細かい粒子を検出する、細かい粒子検出器と、
前記粗大粒子検出器及び前記細かい粒子検出器からの電気信号を処理するための信号処理手段と、
を備え、
前記粗大粒子検出器及び前記細かい粒子検出器と、前記信号処理手段とは、共通のシャシ上に取り付けられている、装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N15/02 D
, G01N15/14 P
審査官引用 (8件)
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特開平2-054146
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特開平4-127033
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フィルター保全性モニターシステム
公報種別：公表公報
出願番号：特願平9-539346
出願人：ビジョン・プロダクツ・プロプライエタリー・リミテッド
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