特許
J-GLOBAL ID：200903030539840837
パレート新領域探索装置,パレート新領域探索プログラムが記録された媒体,パレート新領域探索表示装置及びパレート新領域探索方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
綾田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-376741
公開番号（公開出願番号）：特開2007-179288
出願日： 2005年12月28日
公開日（公表日）： 2007年07月12日
要約：
【課題】 無駄な計算を抑制しつつ、新たなパレート領域を探索可能なパレート新領域探索技術を提供すること。【解決手段】 複数の制限要素に対する複数の特性値の応答を有するシステムがあるとき、サンプリング発生手段と、分類手段と、特性コンターマップ作成手段と、個別最適位置記憶手段と、前記各特性コンターマップを前記類似度が同じとなる位置で重ね合わせ、統合特性コンターマップを作成する重畳手段と、統合最適位置記憶手段と、前記個別最適位置と前記統合最適位置の関係に基づいてパレートラインを設定するパレートライン設定手段と、前記パレートライン上のサンプリングの特徴を抽出する特徴抽出手段と、前記抽出された特徴に基づいて新たなサンプリングを発生させ、新たなパレート領域を探索する探索手段と、を有することとした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の制限要素に対する複数の特性値の応答を有するシステムがあるとき、
該システムの前記制限要素と前記特性との組み合わせであるサンプリングを複数発生させるサンプリング発生手段と、
前記複数の制限要素の組み合わせを、前記複数の制限要素の組み合わせ間のユークリッド距離に応じて平面上に配置する配置手段と、
前記平面上に配置された位置に、前記複数の制限要素の組み合わせに対応する前記特性値を記録し、前記複数の特性値毎に複数の特性コンターマップを作成する特性コンターマップ作成手段と、
前記各特性コンターマップ上の個別最適位置を記憶する個別最適位置記憶手段と、
前記各特性コンターマップを前記ユークリッド距離が同じとなる位置で重ね合わせ、統合特性コンターマップを作成する重畳手段と、
前記統合特性コンターマップ上の統合最適位置を記憶する統合最適位置記憶手段と、
前記記憶された個別最適位置と前記記憶された統合最適位置を結ぶパレートラインを設定するパレートライン設定手段と、
前記パレートライン上のサンプリングの特徴を抽出する特徴抽出手段と、
前記抽出された特徴に基づいて新たなサンプリングを発生させ、新たなパレート領域を探索する探索手段と、
を有することを特徴とするパレート新領域探索装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
引用文献：
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