特許
J-GLOBAL ID：200903030614260213
地盤調査方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (4件)：
角田 嘉宏
, 古川 安航
, 西谷 俊男
, 幅 慶司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-004321
公開番号（公開出願番号）：特開2008-138514
出願日： 2008年01月11日
公開日（公表日）： 2008年06月19日
要約：
【課題】 地盤の性質を簡便にかつ精度良く安定して調査することが可能な地盤調査方法および装置を提供する。【解決手段】 地盤を振動させることによって発生したレイリー波を検出し、検出した結果に基づいて前記地盤の性質を調査する地盤調査方法および装置において、前記検出した結果から前記地盤を構成するそれぞれの地層100と、前記それぞれの地層の土質200とをそれぞれ分類し、分類された前記地層と前記土質とに基づいて地盤解析演算式300を選択し、選択された地盤解析演算式を用いて前記検出した結果を解析して得る情報を利用して前記地盤の性質を調査する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
地盤を振動させることによって発生したレイリー波を検出し、検出した結果に基づいて前記地盤の性質を調査する地盤調査方法において、
前記検出した結果から前記地盤を構成するそれぞれの地層と、前記それぞれの地層の土質とをそれぞれ分類し、分類された前記地層と前記土質とに応じて地盤解析演算式を選択し、選択された地盤解析演算式と前記地層と前記土質とに基づいて前記地盤の性質を推定することを特徴とする地盤調査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
2D043AA00
, 2D043AB07
, 2D043AC01
