地盤沈下量の測定方法及び測定装置

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：後藤洋介 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-183290
公開番号（公開出願番号）：特開2002-006056
出願日： 2000年06月19日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】地盤が複数の層から成る場合でも各層の境目を判別し易くして層別に地盤沈下量を測定できるようにした地盤沈下量の測定方法を提供すること。【解決手段】起振器を用いてレイリー波を発生させ、地盤深さと測定対象地盤上におけるレイリー波速度との関係を示す特性曲線を作成する。この特性曲線における変曲点を判定して第一層〜第(n+1)層(nは2以上の整数)の地盤層の各境目を深さで特定する。特定した第一層の層厚を用いて第一層の即時沈下量、圧密沈下量を計算し、第一層を除く特定した第n層までの層について層厚を用いて層毎に即時沈下量、圧密沈下量を計算する。層毎の特性曲線の変動パターンに応じて各層について即時沈下量、圧密沈下量の少なくとも一方を採用して層毎の沈下量を求める。

請求項（抜粋）：

起振器を用いてレイリー波を発生させ、地盤深さと測定対象地盤上において計測されたレイリー波速度との関係を示す特性曲線を作成し、前記特性曲線における変曲点を判定して第一層〜第(n+1)層(nは2以上の整数)の地盤層の各境目を深さで特定し、特定した第一層の層厚を用いて第一層の即時沈下量、圧密沈下量を計算し、第一層を除く特定した第n層までの層について層厚を用いて層毎に即時沈下量、圧密沈下量を計算し、層毎の前記特性曲線の変動パターンに応じて各層について前記即時沈下量、圧密沈下量の少なくとも一方を採用して層毎の沈下量を求めることを特徴とする地盤沈下量の測定方法。

IPC (4件)：

G01V 1/30 , E02D 1/00 , G01B 17/00 , G01S 13/88

FI (4件)：

G01V 1/30 , E02D 1/00 , G01B 17/00 A , G01S 13/88 G

Fターム (18件)：

2D043AA00 , 2D043AB07 , 2D043AC01 , 2D043BA10 , 2F068AA24 , 2F068AA28 , 2F068CC00 , 2F068FF14 , 2F068FF16 , 2F068FF25 , 2F068GG05 , 2F068HH03 , 2F068KK14 , 2F068KK18 , 5J070AC03 , 5J070AE11 , 5J070AK15 , 5J070AK22

引用特許：

出願人引用 (8件)

特許第3052224号
特許第2609108号
地盤強度解析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-353937 出願人：山田信久

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