特許
J-GLOBAL ID：200903030676396740
引張試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-152677
公開番号（公開出願番号）：特開2001-330541
出願日： 2000年05月18日
公開日（公表日）： 2001年11月30日
要約：
【要約】【課題】 引張試験片を固定するための把持具に作用する重力が、引張試験の測定値に影響しないようにし、試験片の機械的性質等を正確に測定できる引張試験装置を提供する。【解決手段】 引張試験片の一端を把持して固定する把持具2と、引張試験片の他端を把持し引張荷重を付加して試験片を変位させる可動側の把持具3とを備える引張試験装置において、前記可動側の把持具3を非接触で浮上させる手段を備える。
請求項（抜粋）：
引張試験片の一端を把持して固定する把持具と、引張試験片の他端を把持し引張荷重をほぼ水平方向に付加して試験片を変位させる可動側の把持具とを備える引張試験装置において、前記可動側の把持具を非接触で浮上させる手段を備えることを特徴とする引張試験装置。
Fターム (2件)：
引用特許：
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