特許

J-GLOBAL ID：200903030845498158

測距装置の軸調整用ターゲット及び軸調整方法

発明者： 松浦 義朗 ,  浅田 哲也 ,  瀧川 能史 ,  ロバート・ヘッカー ,  ヴィルフリイド・メアー ,  ホルガー・シャンツ
出願人/特許権者： オムロン株式会社 ,  日産自動車株式会社 ,  エー.デー.シー.オートモーティブ・ディスタンス・コントロール・システムズ・ゲーエムベーハー
代理人 (1件)： 鹿嶋 英實
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-010224
公開番号（公開出願番号）：特開2003-215244
出願日： 2002年01月18日
公開日（公表日）： 2003年07月30日
要約：

【要約】【課題】 分解能が粗い一方向の走査で非走査方向も含めた2次元光軸調整が容易かつ正確に行えるレーザレーダ1の光軸調整方法を提供する。【解決手段】 走査方向位置に対する受信強度の波形が逆W字状となり、この波形から軸ずれ量が各方向について定量的に算出可能となるよう、検出表面の明暗パターンと外形が設定されている軸調整用ターゲット3を使用し、制御回路17の自動制御によって、算出した軸ずれ量を是正するようにレーザレーダ1の取付け位置又は取付け角度を調整するか、レーザレーダ1の検出エリアを設定するパラメータを変更する。

請求項（抜粋）：

所定の検出エリアからの波動を受信し、受信した波動の少なくとも受信強度に基づいて、前記検出エリアにある被検出物の少なくとも位置を特定するためのデータを出力する測距装置に関して、前記検出エリアの中心位置の適正位置からのずれ量を、基準方向とこれに直交する直交方向の二方向について検知するための軸調整用ターゲットであって、波動の反射率の大きな明部と反射率の小さい暗部が所定の明暗パターンで配置された所定外形の検出表面を備え、前記検出表面に前記測距装置の検出エリアを向けた状態で基準方向に走査して測定動作を行うと、基準方向位置に対する前記受信強度の波形が、前記検出表面の明暗パターン或いはさらに外形に対応したW字状又は逆W字状となり、この波形から前記ずれ量が前記二方向について算出可能となるように、前記検出表面の明暗パターン或いはさらに外形が設定されていることを特徴とする測距装置の軸調整用ターゲット。

IPC (2件)：

G01S 17/93 ,  G01B 11/00

FI (2件)：

G01B 11/00 C ,  G01S 17/88 A

Fターム (49件)：

2F065AA01 ,  2F065AA07 ,  2F065AA19 ,  2F065AA20 ,  2F065AA31 ,  2F065BB02 ,  2F065BB28 ,  2F065CC11 ,  2F065DD06 ,  2F065FF11 ,  2F065FF23 ,  2F065FF31 ,  2F065FF41 ,  2F065FF61 ,  2F065FF65 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065NN17 ,  2F065NN20 ,  2F065PP03 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ42 ,  2F065TT02 ,  2F065TT08 ,  2F065UU09 ,  5J084AA01 ,  5J084AA05 ,  5J084AA10 ,  5J084AB01 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA11 ,  5J084BA36 ,  5J084BA49 ,  5J084BA58 ,  5J084CA31 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084DA08 ,  5J084EA19 ,  5J084EA21 ,  5J084EA34

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 測距装置の2次元軸調整方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-242378   出願人：オムロン株式会社
• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-245843   出願人：ミノルタ株式会社
• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-292128   出願人：株式会社リコー
• ビーム光走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-270894   出願人：東芝テック株式会社