特許
J-GLOBAL ID：200903031011509809
電磁波発生源探査装置および電磁波発生源探査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-268365
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071737
出願日： 2000年08月31日
公開日（公表日）： 2002年03月12日
要約：
【要約】【課題】装置近傍の磁界分布から装置上の電流分布を探査する装置に置いて,位相基準となる被測定対象のクロックを必要とせず,磁界の大きさの分布から電流を探査する装置を提供する。【解決手段】被測定対象近傍の磁界分布を測定し,この分布を時間波形と見なして複素フーリエ変換することで得られる周波数成分は全て電流位置に対して偶感数であると考えられる。このため,全周波数成分を時間波形で示したとき,ピークもしくはディップ点(nπの点)の値を座標に対して保持し,これらを全て加算したとき,電流の位置でのみ値が残る。この方式により,高速・高分解能が実現でき,またクロック抽出回路も不要にした波源探査装置を提供する。
請求項（抜粋）：
測定対象が発生する電磁波の発生源を探査する装置において、前記測定対象の磁界強度の分布を測定する測定部と、その測定された磁界強度の分布から前記電磁波の発生源を求める演算部とを備え、該演算部は、該測定結果とデルタ関数の畳み込み積分を用いて探査すべき発生源の位置を特定することを特徴とする電磁波発生源探査装置。
引用特許：
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